[实用新型]测距组件

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测距装置，特别是涉及一种测距装置中的测距组件。

背景技术

近来，激光测距装置正在得到普及，与传统的红外测距装置相比，能实现免棱镜测距，由于采用光束直径小的激光光束，能够以点来照射测定目标，使得对测定目标的特定点成为可能。但由于免棱镜测距测程比较短，在长距离测量中，仍采用棱镜作为测定目标，并且为了容易瞄准和高精度的测定，采用具有较大光束的激光光束。

但是由于同时装配采用棱镜的长距离用测距装置和免棱镜测距装置不方便，有人提出在一台测距装置中既能免棱镜测距又能棱镜测距的测距装置。

例如，在中国专利文献公告号CN1512136A中，提出了可在一台测距装置上进行采用免棱镜测距和棱镜测距的测距装置，以下参考图1对该测距装置进行简单说明。

该测距装置包括：光源部15、发射光学系统16、内部参照光学系统17和受光光学系统18。其中，光源部15用于发射测距光和指示光，该光源部15包括：激光光源21，混合部件23、菱形棱镜28、第二准直透镜29、光纤31、第三准直透镜32和指示光源33；发射光学系统16将来自光源部15的测距光发射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入受光光学系统18，该发射光学系统16包括：光束分离器35、第一光路偏转部件37、第二光路偏转部件38和物镜39；内部参照光学系统17将来自光源部15的测距光作为内部参照光导入受光光学系统18，该内部参照光学系统17包括：分色棱镜47和斩光器部件48；受光光学系统18包括：受光光纤54、第五准直透镜55、干涉滤光器56和受光元件58。

以下对上述各部件的配合工作过程进行简单说明。

首先，将指示光源33打开发出指示用激光光束，该指示用激光光束由光束分离器35反射，经第一光路偏转部件37、第二光路偏转部件38后再通过物镜39照射到测定目标，确定目标后就将指示光源33关闭。

选择免棱镜测距模式时，菱形棱镜28将光路26和发射光轴27遮挡，测距激光光源21发出的测距光在混合部件23中混合，菱形棱镜28使光路向光路25偏转，通过光束分离器35，经发射光学系统16发射到测定目标。由测定目标反射的反射测距光通过发射光轴27入射到分色棱镜47，再经分色棱镜47反射后射入受光光纤54，反射测距光由该光纤54引导至第五准直透镜55和干涉滤光器56，最终入射到受光元件58。

选择棱镜测距模式，菱形棱镜28的位置被确定在偏离光路26和发射光轴27的状态。测距激光光源21发出的测距光由混合部件23混合，经准直透镜29射入光纤31的入射端面，该光纤31的出射端面位于发射光轴27上，经准直透镜32聚光后，测距光透过光束分离器35，通过发射光学系统16发射到测定目标，进行测距。

为消除电子线路受温度、电源变化等因素影响而产生的相位偏移，在棱镜测距和免棱镜测距前均需进行内部参照光测量，从而，通过由反射测距光测得的距离值减去内部参照光测得的距离值，来消除电子线路相位偏移的误差。

进行内部参照光测量时，通过斩光器部件48将来自光源部15的测距光作为内部参照光切换至内部参照光学系统17的内部参照用光轴44，该测距光沿内部参照用光轴44和受光光轴52入射到受光元件58，进行内部参照光测量。

上述的传统测距装置中，由于采用了指示和测距两个光源，并采用以上所述的棱镜测距和免棱镜测距的复杂切换方式，致使器件过多，结构复杂，不利于装调生产。

实用新型内容

本实用新型提供一种测距组件，所要解决的技术问题是使其结构优化，以利于装调生产，并提高激光测距装置的可靠性。

本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本实用新型提出的一种测距组件，包括：光源部，光转发部以及内部参照光路部，其中光源部包括：光源，用于发射第一测距光；光转发部，用于将来自所述光源部的测距光发射至测定目标；以及内部参照光路部，用于将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入受光部。

本实用新型的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的测距组件，所述光源部还包括：第一滤光器，当其位于所述光源的发射光轴上时，调整所述第一测距光的光强；以及光阑，当其位于所述光源的发射光轴上时，将所述第一滤光器调整后的第一测距光调整为第二测距光；

前述的测距组件，所述光源为发光管。

前述的测距组件，所述第一滤光器由第一电机驱动。

前述的测距组件，所述光阑由第二电机驱动。

前述的测距组件，所述光转发部包括第一光路偏转部件、准直透镜和第二光路偏转部件。