[实用新型]一种SFP+型光通讯测试装置

说明书

技术领域

本实用新型专利涉及一种光通讯测试装置，尤其涉及一种SFP+型光通讯测试装置。

背景技术

SFP+是Small Form Factor Pluggable Module的简称，是一种小型热插拔封装的光模块，SFP+光模块内部有监控MCU，采集各种通讯性能参数，即诊断参数，并按照SFF标准协议将数据保存在存储器内。它提供了一个IIC方式的外部接口，读写参数信息只能通过符合IIC协议的命令才行。

对于调试人员来说，在现场调试光模块性能，找出故障原因，需要实时监控光模块的性能参数，通过一个测试装置将数据从光模块内读取后发给PC机显示，或在PC机上配置信息，通过一个测试装置将数据写入光模块中。

所以该测试装置需完成与PC机通讯功能，以及和光模块的通讯功能。第一，测试装置与光模块通讯功能基于IIC通讯方式。第二，在微处理器与PC的通讯方式中，主要可用并口、串口以及USB接口。并行口引脚繁多，在与微处理器的通讯应用中已经不常见。比较常用的方式为串口(DB9)，因为它的协议比较简单，实现也比较容易。

上述现有测试装置方案中，PC机与测试装置通讯采用串口方式，这种通讯方式虽然实现简单，但数据传输速率较慢，再加上测试装置上的微处理器进过协议转换和IIC通讯，在PC机上得到的数据实时性不高。另外现在调试的便携式PC一般都不带串口这种硬件，给现场调试带来诸多不便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种SFP+型光通讯测试装置。它的可以提高PC机(外部电脑)与测试装置的传输速率和PC机上得到的数据实时性，且使用方便，结构简单。

本实用新型的技术方案：一种SFP+型光通讯测试装置，其特征在于：包括微处理器，通讯接口A、通讯接口B、电源管理模块。微处理器分别与通讯接口A、通讯接口B和电源管理模块相连，通讯接口A也与电源管理模块相连。

前述的SFP+型光通讯测试装置中，所述微处理器内设有USB模块和两个IIC模块，USB模块与通讯接口A相连，这样微处理器与外部电脑建立连接通道；两个IIC模块均与通讯接口B相连，建立了微处理器与外部光模块的连接通道。

前述的SFP+型光通讯测试装置中，所述微处理器为MSP430F55XX系列微处理器芯片。

与现有技术相比，本实用新型将SFP+型光通讯测试装置为USB装置，测试装置通过USB连接线与外部PC机连接时，通过微处理器模块配置将该测试装置枚举成CDC模块，PC机上上位机软件系统可以用于把测试装置作为串口，对其发送命令和数据，而实质数据从PC机到达测试装置的传输方式为USB通讯，速率较串口快许多。测试装置上的微处理器可以读取和解析外部上位机软件模块的命令和数据，从而实现PC机与微处理器的通讯协议。微处理器可以通过IIC对外部光模块通讯的信息进行读取和写入，并将信息转换为外部上位机软件模块所能识别的格式，这样PC机到测试装置，再到外部光模块的数据链路就建立起来了。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型实施例工作流程图。

附图中的标记为：1-微处理器，2-通讯接口A，3-通讯接口B，4-电源管理模块，5-USB模块，6-IIC模块，7-外部电脑，8-光模块。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明，但并不作为对本实用新型限制的依据。

实施例。一种SFP+型光通讯测试装置，如图1所示，包括微处理器1，通讯接口A2、通讯接口B3、电源管理模块4。微处理器1分别与通讯接口A2、通讯接口B3和电源管理模块4相连，通讯接口A2也与电源管理模块4相连。所述微处理器1内设有USB模块5和两个IIC模块6，USB模块5与通讯接口A2相连，两个IIC模块6均与通讯接口B3相连。通讯接口A2与外部电脑7的USB接口相连，通讯接口B3与光模块8相连。所述微处理器1为MSP430F55XX系列微处理器芯片(德州仪器生产)。

工作过程如图2所示：在外部电脑(上位机)的软件界面功能中，可包括光模块内部的存储器中总共512字节内容的具体含义解析。例如：光模块的发射功率、偏置电流、光模块的电压、温度、光接受功率。以及这些参数的报警阀值设定值。