[实用新型]栅氧击穿方式的反熔丝单元结构有效
申请号: | 201120069591.X | 申请日: | 2011-03-16 |
公开(公告)号: | CN202018826U | 公开(公告)日: | 2011-10-26 |
发明(设计)人: | 曹靓;胡小琴;封晴 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G11C17/16 | 分类号: | G11C17/16 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214035 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 击穿 方式 反熔丝 单元 结构 | ||
【权利要求书】:
1. 栅氧击穿方式的反熔丝单元结构,其特征是:包括自外而内的N注入(5)、N阱(4)和有源区(3),所述有源区(3)上表面接触栅氧化层(1),栅氧化层(1)上为多晶栅(2),所述栅氧化层(1)将有源区(3)与多晶栅(2)隔离,所述多晶栅(2)和有源区(3)作为反熔丝单元的两个电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所,未经中国电子科技集团公司第五十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120069591.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种甘薯胚性愈伤长期增殖保存的方法
- 下一篇:数据流转换装置及平板显示器