[实用新型]一种用于微量分光光度计的取样测量装置

权利要求书

1.一种用于微量分光光度计的取样测量装置，其包括

上测量平台（4）和下测量平台（5），所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）之间的距离可调；

    在所述上测量平台（4）上设置有投射光纤座（3）或接收光纤座（6），在所述下测量平台（5）上设置有接收光纤座（6）或投射光纤座（3），所述投射光纤座（3）以及所述接收光纤座（6）分别与光纤相连接；所述投射光纤座（3）以及所述接收光纤座（6）上下对正，用于容纳待检样品；

在所述上测量平台（4）上，设置有用于调节所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）之间距离的第一顶丝（1），在所述下测量平台（5）上与所述第一顶丝（1）相对应的位置设置有可以上下移动的升降座（7），和套设在所述升降座（7）外与所述下测量平台（5）固定的电磁铁磁缸（9）；所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）上下对正时，所述第一顶丝（1）的底端和所述升降座（7）的顶端相接触；

其特征在于：

所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座（6）相连接的检测单元（20），所述检测单元（20）包括光电转换模块、数据接收模块、检测计算模块、数值校正模块、光程长度选择模块和检测数据输出模块；

所述光电转换模块和所述接收光纤座（6）通过光栅相连接，所述光电转换模块和所述数据接收模块相连接，将经光电转换后的电信号输入至所述数据接收模块；

所述数据接收模块还分别和所述检测计算模块、数值校正模块以及光程长度选择模块相连接，所述检测计算模块接收所述数据接收模块输出的检测数据并对其进行计算，所述数值校正模块与所述检测计算模块连接，所述数值校正模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定校正系数，并将该校正系数输入至所述数据接收模块，检测计算模块根据确定的校正系数进行吸光值计算；所述光程长度选择模块与所述检测计算模块连接，所述光程长度选择模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定光程长度，并将选择的光程长度输入至所述数据接收模块，检测计算模块再根据相应所述光程长度进行计算；所述检测数据输出模块将所述检测计算模块计算得到的检测数值输出。

2.根据权利要求1所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于：

在所述上测量平台（4）上，垂直于所述上测量平台（4）还纵向贯通设置有第二顶丝（2），相对于所述上测量平台（4）朝向所述下测量平台（5）的一端，所述第一顶丝（1）的底端低于所述第二顶丝（2）的底端。

3.根据权利要求1或2所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于：

所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）通过中心轴（11）连接，所述上测量平台（4）可沿所述中心轴（11）转动打开。

4.根据权利要求3所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于：

在所述升降座（7）的底部设置有可朝向所述升降座（7）施加偏压力的偏压力部件（8），所述偏压力部件（8）的另一端与所述电磁铁磁缸（9）内部的底端相抵触。

5.根据权利要求4所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于：

所述电磁铁磁缸（9）得电时，得到最小光程长度；所述电磁铁磁缸（9）失电时，得到最大光程长度。

6.根据权利要求5所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于：

所述最小光程长度为0.2mm，最大光程长度为1.0mm。

7.根据权利要求1或2或4或5或6所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于：

在所述上测量平台（4）关闭时，在所述上测量平台（4）和所述下测量平台（5）相对的两个平面的对应位置处分别开设凹槽，在所述凹槽内部放置磁铁（10），通过所述磁铁（10）的磁力实现对所述上测量平台（4）和所述下测量平台（5）的锁定。

8.根据权利要求7所述的取样测量装置，其特征在于：

所述光电转换模块为光电探测器。