[实用新型]激光近场分辨率测量用4f光学系统

说明书

技术领域

本实用新型属光学领域，涉及一种测量用光学系统，尤其涉及一种在激光近场分辨率测量用的4f光学系统。

背景技术

激光在传输过程中，需要经过多级、多个光学元件的取样、传递、缩束环节，由于这一过程中光学元件自身的缺陷，势必会给激光光束的质量带来影响，这种影响反应到激光光束本身就体现在光束的能量分布发生变化，光束的波前产生畸变，光束在探测器上的调制度和对比度等都会随之产生变化。为了能够对激光光束的各参数进行准确评价，就需要建立精确的光束参数测量装置，以便准确测量参数，反馈给系统作为光束校正的指导。

在众多的参数测量中，对光束近场分辨率的测量是参数测量中的关键测量部分。通常的分辨率测量系统虽然也符合近场物面和近场像面成像这样的物象共轭关系，能够完成近场分辨率测量的要求，但其精度低，系统庞大复杂，使用起来非常不方便。

实用新型内容

为了解决背景技术中存在的上述技术问题，本实用新型提供了一种测量精度高、结构简单以及使用方便的激光近场分辨率测量用4f光学系统。

本实用新型的技术解决方案是：本实用新型提供了一种激光近场分辨率测量用4f光学系统，其特殊之处在于：所述激光近场分辨率测量用4f光学系统包括对入射光起发散作用的发散元件、对入射光起会聚作用的会聚元件以及探测器；所述发散元件、会聚元件以及探测器依次设置于同一光轴上。

上述发散元件是正透镜和/或负透镜所形成的第一透镜单元；所述会聚元件是负透镜和/或正透镜所形成的第二透镜单元。

上述发散元件仅由负透镜或正透镜形成第一透镜单元时，所述第一透镜单元是双凸形透镜、平凸形透镜、弯月形透镜或双凹形透镜。

上述发散元件由负透镜和正透镜所形成的第一透镜单元时，所述第一透镜单元至少包括一个弯月形负透镜以及一个双凸形正透镜；所述弯月形负透镜以及双凸形正透镜依次设置于同一光轴上。

上述会聚元件仅由正透镜或负透镜形成第二透镜单元时，所述第二透镜单元是双凸形透镜、平凸形透镜、弯月形透镜或双凹形透镜。

上述会聚元件由正透镜和负透镜形成第二透镜单元时，所述第二透镜单元至少包括一个双凸形正透镜以及一个弯月形负透镜，所述双凸形正透镜和弯月形负透镜依次设置于同一光轴上。

上述探测器是胶片或者CCD。

本实用新型的优点是：

本实用新型提供了一种激光近场分辨率测量用4f光学系统，该系统由看似简单的光学元件搭建了足以能够完成近场分辨率测量的光学系统，该系统的光学元件可以根据实际情况不同组建多种形式，其精度越高，并具有结构简单、使用方便等优点。

附图说明

图1是本实用新型所提供的激光近场分辨率测量用4f光学系统的结构示意图；

图2是依据本实用新型所提供系统在分辨率测量光路成像质量图。

其中：1-近场物面，2-第一透镜单元2，3-第二透镜单元3，4-近场像面。

具体实施方式

参见图1，本实用新型提供了一种激光近场分辨率测量用4f光学系统，该包括对入射光起准直作用的准直元件、对入射光起会聚作用的会聚元件以及探测器；准直元件、会聚元件以及探测器依次设置于同一光轴上。准直元件可以是由正透镜和/或负透镜所形成的第一透镜单元2；会聚元件可以是由负透镜和/或正透镜所形成的第二透镜单元3。

当准直元件仅由负透镜或正透镜形成第一透镜单元2时，第一透镜单元2是双凸形透镜、平凸形透镜、弯月形透镜或双凹形透镜。

当准直元件由负透镜和正透镜所形成的第一透镜单元2时，第一透镜单元2至少包括一个弯月形负透镜以及一个双凸形正透镜；弯月形负透镜以及双凸形正透镜依次设置于同一光轴上。

当会聚元件仅由正透镜或负透镜形成第二透镜单元3时，第二透镜单元3是双凸形透镜、平凸形透镜、弯月形透镜或双凹形透镜。

当会聚元件由正透镜和负透镜形成第二透镜单元3时，第二透镜单元3至少包括一个双凸形正透镜以及一个弯月形负透镜，双凸形正透镜和弯月形负透镜依次设置于同一光轴上。

探测器可以可以是胶片或者CCD。