[实用新型]一种通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管封装件

说明书

[技术领域]

本实用新型涉及半导体发光二极管，特别涉及到半导体晶片与支架或半导体晶片与半导体晶片之间通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管。

[背景技术]

半导体发光二极管即是LED，LED的是英文light emitting diode的缩写。发光二极管，是一种固态的半导体器件。它的基本结构是一块电致发光的晶片，晶片置于一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，然后用环氧树脂或其它物质密封。是一种能够将电能转化为可见光的半导体器件。

晶片由三部分组成，一部分是P型半导体，另一端是N型半导体，这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个“P-N结”。当电流通过导线(键合丝)作用于这个晶片的时候，电子就会被推向量子阱(P区)，在量子阱内电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量，这就是发光二极管发光的原理。而光的波长也就是光的颜色，是由形成P-N结的材料决定的。

发光二极管封装是保护晶片和完成电气互连，并输出可见光。发光二极管封装结构分有全环氧包封、金属底座环氧封装、陶瓷底座环氧封装及玻璃封装等结构。

晶片粘结或烧结在支架上，通过金属丝与支架连接，并通过焊线机完成接点的结合，然后封装。

半导体发光二极管封装件中的引线键合，就是用非常细小的线把芯片上焊盘和支架连接起来。铜引线键合作为一种可行的、经济的解决方案，已应用在半导体封装中。由于铜引线键合是集成到现有的金引线键合工艺(主要是焊层材料)及封装设备上。所以，目前铜引线键合所占的引线键合比例依然很少，主要是因为铜引线键合面临着一些难点：

其一、键合铜丝容易被氧化；

其二、键合接口结合力不够强壮，可靠性不稳定。

本实用新型是在此种情况下作出的。

[实用新型内容]

本实用新型是克服了现有技术的不足而提供了一种镀镍键合铜丝不容易被氧化、提高接口结合强度和稳定的可靠性的半导体发光二极管封装件。

本实用新型采用下述技术方案：

一种通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管封装件，包括有支架，在支架上设有导电粘胶，在导电粘胶上固定有至少一块晶片；其特征在于在支架与晶片之间连接有镀镍键合铜丝；所述支架和晶片有密封体密封。

如上所述的一种通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管封装件，其特征在于所述镀镍键合铜丝包括铜芯线或铜合金芯线，在铜芯线或铜合金芯线的表面包覆有镍层。

如上所述的一种通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管封装件，其特征在于所述晶片为一块。

如上所述的一种通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管封装件，其特征在于所述晶片为两块或两块以上，各个晶片之间通过镀镍键合铜丝连接。

如上所述的一种通过镀镍键合铜丝连接的半导体发光二极管封装件，其特征在于所述镀镍键合铜丝直径范围为0.075mm-0.010mm，镍层厚度为0.1-0.4um。

本实用新型的有益效果是：

由于本实用新型的晶片与支架或晶片与晶片之间通过一种表面镀镍层的键合铜丝连接，这样解决键合铜丝被氧化问题，可在保护气芬下进行键合，提高接口结合强度和稳定的可靠性。镀镍键合铜丝能通过不多的成本增加来获得额外的连接能力提升，提高封装性能和实现高密度封装。

采用键合铜丝连接，可以提供最优的成本，并获得性能上的显着提高。因为：

1、铜的导热性、导电性高于金及铝，因而可提高其热转移效率及功率。

2、铜的机械特性也比金优良，在塑型(Molding)封装时能维持极佳的焊球颈强度及线弧的稳定度。

3、金属间化合物在铜焊点的生成较金焊点减缓许多，因此电阻较小、产生的热量较低，也就能够提高焊点的可靠性及器件的效能。由于铜有较低金属间共金化合物生成率、电阻、热量方面的优势，因此长期的电阻增加现象较小，老化现象较慢。

4、铜的成本相对很低，更是成为替代焊接材料的一大优势。

5、铜焊点的金属间共金化合物生成率较慢，也让高功率器件的封装能够提高可靠性。

[附图说明]

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1的局部放大图；

图3为镀镍键合铜丝实施例一的剖示图；

图4为镀镍键合铜丝实施例二的剖示图。

[具体实施方式]