[实用新型]多功能辐射测量系统、主机及其探测器无效

专利信息
申请号: 201120117575.3 申请日: 2011-04-20
公开(公告)号: CN202119534U 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 刘金元 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张雪梅
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 多功能 辐射 测量 系统 主机 及其 探测器
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种多功能辐射测量系统,更具体地,本实用新型涉及一种包括一个主机和多个探测器的多功能辐射测量系统。 

背景技术

人们在工业生产和科研活动中,很多情况下需要对光的不同类型的辐射量进行准确测量,如紫外辐射的辐射照度、光源照明情况的光照度、各种发光体的光亮度以及激光的辐射功率等等。为了测量不同类型的光辐射量,人们研制了不同类型的辐射光度计,如紫外辐照度计、照度计、亮度计以及激光功率计等等。 

常规的光辐射计,如照度计、亮度计以及紫外辐照度计等等,都由探测器和其后的电路系统组成,其系统结构如图1所示。探测器大多由例如光电二极管或者硅光电池的光电探测器配以相应的滤光片的组成,如光照度计探测器需要配以V(λ)修正滤光片。光电探测器接收的光信号,例如光照度、紫外辐照度、亮度等等,与其产生的光电流在一定范围内具有线性关系。探测器产生的电信号例如经过I/V转换电路,被转换成电压信号,再经过放大电路和模数转换(A/D转换)电路,经由数字显示器将结果显示出来。光辐射计经过计量校准后量值溯源到国家相应的计量标准,便可对相应的辐射度或光度进行准确测量。 

普通的光辐射计往往功能单一,一种类型的测量仪器并不能用来测量其它类型的光辐射量,比如测量光照度的照度计不能用来测量紫外辐照度和亮度,仪器功能缺乏扩充性。并且,普通的光辐射计,探测器和其后的电路系统是一个整体,其量值的校准是要把探测器和其电路系统作为一个整体来校准。 

为了提高辐射光度计的功能性,已经研发了一种配备几个不同探测器的辐射光度计,以便实现几种不同光辐射量的测量。这种配备多个探测器的辐射光度计在一定程度了扩充了辐射光度计的功能,但探测器和主机仍然作为整体被校准,或属于一个辐射光度计的各个探测器之间可互校准,属于不同辐射光度计的探测器即使是相同类型辐射计上的探测器也不能互换使用。 

因此,需要一种主机和各种探测器可以灵活组合使用的多功能光辐射测量系统。 

实用新型内容

根据本实用新型的多功能辐射测量系统可以解决现有技术中存在的技术问题。 

本实用新型提供一种多功能辐射测量系统,该系统包括一个主机和至少一个分离式探测器, 

所述至少一个探测器中的每个探测器包括: 

检测单元,用于将接收的辐射转换为电信号; 

探测器存储器,用于存储包括该探测器的类型数据和将该探测器的量值溯源到国家辐射度或光度基准的校准数据的数据; 

探测器接口,用于通过总线与所述主机通信连接, 

所述主机包括: 

主机接口,用于通过总线与所述至少一个探测器之一通信连接; 

存储器,用于存储包括将主机量值溯源到国家电学量基准的校准数据的数据; 

读取单元,用于响应主机与所述多个探测器之一的连接,读取所连接探测器的类型数据和校准数据, 

信号处理单元,对来自探测器的电信号进行处理得到处理后信号, 

控制单元,用于根据探测器的类型数据、探测器的校准数据以及主机校准数据,对处理后信号进行校准得到测量信号, 

显示单元,用于显示所述测量信号。 

优选地,所述探测器是光照度探测器、光亮度探测器件和辐射功率探测器中的一种或多种。 

优选地,所述探测器存储器为电可擦可编程只读存储器(EEPROM)芯片。 

优选地,所述总线为I2C总线、串口总线或USB总线。 

优选地,所述控制单元输出程控信号用于对信号处理单元进行程控。 

优选地,所述信号处理单元进一步包括: 

信号放大单元,用于对来自探测器的电信号进行放大;和 

模数转换单元,用于对已放大信号进行模数转换得到处理后信号。 

进一步,本实用新型提供一种一种用于多功能辐射测量系统的主机,所述测量系统包括该主机和至少一个分离式探测器,,该主机包括: 

主机接口,用于通过总线与所述多个探测器之一通信连接; 

存储器,用于存储将主机量值溯源到国家电学量基准的主机校准数据; 

读取单元,用于响应主机与所述多个探测器之一的连接,读取所连接探测器的类型数据和校准数据, 

信号处理单元,对来自探测器的电信号进行处理得到处理后信号, 

控制单元,用于根据探测器的类型数据、探测器的校准数据以及主机校准数据,对处理后信号进行校准得到测量信号, 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120117575.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top