[实用新型]轴芯轨迹分析仪无效

专利信息
申请号: 201120119552.6 申请日: 2011-04-21
公开(公告)号: CN202058148U 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 尹爱军;王见;雷才国;刘富安;郭平;张遵国;王军;王勇 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G06F17/40 分类号: G06F17/40;G01B21/02;G06F9/44
代理公司: 重庆市前沿专利事务所 50211 代理人: 郭云
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 轨迹 分析
【权利要求书】:

1. 轴芯轨迹分析仪,包括传感器组(1)、数据采集模块(3)、嵌入式计算机主机(4)和显示器(5),其中:

传感器组(1)采集外部信号,将外部信号转换成电信号,输出到数据采集模块(3);

数据采集模块(3)将收到的信号转换为数字量,输出到嵌入式计算机主机(4);

嵌入式计算机主机(4)对接收到的数据进行分析、处理和保存,然后将结果输出到显示器(5)显示;

其特征在于:传感器组(1)由X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器构成,X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器分别将X轴向位移信号和Y轴向位移信号转换成电信号,输出到数据采集模块(3)。

2.根据权利要求1所述的轴芯轨迹分析仪,其特征在于:所述数据采集模块(3)包括PCI总线数据采集卡或USB接口数据采集器,PCI总线数据采集卡或USB接口数据采集器接收X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器输出的电信号,并将收到的电信号转换为数字量,输出到嵌入式计算机主机(4)。

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