[实用新型]具有计数功能的PCB板测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体器件的电性能测试设备，尤其是涉及一种具有计数功能的PCB板测试治具。

背景技术

在印刷电路板的生产时，需要通过治具来测试其电性能，PCB板测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分，治具具有针盘，针盘上的探针直接决定电性能测试的稳定性以及效率；在实际生产中，PCB板多为批量制造、批量测试，需要保证针盘上探针始终处于良好的状态，一旦探针出现故障、尤其是间歇性故障，将导致误测试而造成质量事故，往往需要将大批量的产品收回重新测试；因此针盘探针的可靠性，严重影响测试的稳定性和可靠性；目前在大批量PCB板测试过程中，一般采用定期更换针盘，拆卸的针盘被丢弃；这种直接定期更换的这种方式，会因为不同阶段所测试的PCB批量不同，一些尚具有较长使用寿命的针盘也会被弃用，形成一种浪费，不利于生产成本的降低。

发明内容

本实用新型主要目的是提供一种具有计数功能的PCB板测试治具，其可记录针盘实际测试的次数，而充分利用针盘的使用寿命；整体结构简单、易于制作。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：具有计数功能的PCB板测试治具，包括上治具和下治具，下治具包括针盘与底座，其特征在于：所述的针盘上设有触碰开关，触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面；该触碰开关电连接有计数器。每次测试PCB板，上治具下压PCB板，由于触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面，故PCB板触发触碰开关，形成一次测试计数，并显示在计数器上；通过计数器的统计，操作者可确定针盘的总测试次数，并根据总测试次数而确定的针盘是否达到预期或设计的使用寿命，达到则更换针盘；这种方式，可有效地控制针盘的使用寿命，在保证测试的稳定性和可靠性的情况下，充分地利用了针盘的使用寿命，降低了生产成本。

为了便于操作者观察计数结果，作为优选，所述的计数器设于针盘与底座之间。计数器安装在针盘与底座之间，使之与下治具构成一种整体结构，不占用外部空间，并方便使用和存放。

作为优选，所述的触碰开关设于远离计数器的一侧。相对于操作者，触碰开关与计数器一个在后一个在前，这种方式，便于操作者对PCB板在针盘上的操作。

出于对触碰开关的保护，作为优选，所述的触碰开关的触发端下压至极限位置时，其触发端顶部低于针盘上表面。

因此，本实用新型具有结构合理、易于制作等特点，尤其是具有可有效控制针盘的使用次数、充分利用针盘的使用寿命的有益效果。

附图说明

附图1是本实用新型具有计数功能的PCB板测试治具的一种结构示意图；

附图2是附图1中的III处放大图；

附图3是附图1中的IV处放大图。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。

实施例：本实用新型具有计数功能的PCB板测试治具，如附图1所示，其包括上治具1和下治具，下治具包括针盘2与底座3。

针盘2上设有触碰开关24，该触碰开关24电连接有计数器25。

如附图3所示，计数器25设于针盘2与底座3之间。

如附图2所示，触碰开关24设于远离计数器25的一侧，其触发端凸出于针盘2的上表面。触碰开关24的触发端下压至极限位置时，其触发端顶部低于针盘2上表面。

使用时，将待测试的PCB板放置到下治具的针盘2上，上治具1下压，待测试的PCB板接触并下压触碰开关24的触发端，使触碰开关24得到触发并发出控制信号，计数器25随之增加一次计数；至此，测试计数完成。当计数器25统计的数量达到针盘2预期的使用次数，则更换针盘24，或更换下治具。