[实用新型]一种芯片自动测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种芯片自动测试仪，主要用于自动读取80芯片信号并测试。

背景技术

目前主要采用人工一个个对芯片进行测试, 效率慢, 易发生漏测试现象。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术中所存在的上述不足，而提供一种结构简洁，工作可靠，自动化程度高的芯片自动测试仪。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是：该芯片自动测试仪，包括箱顶框架、箱底框架、载具，其特征是还设置有旋转装置、第一磁钢组件、升降导柱、测试针板、LED底座、气缸、基板、直线滑轨、磁性开关、旋转加强板、旋转轴、第二磁钢组件、LED指示矩阵，箱顶框架安装有控制电路板和读卡器, 测试针板安装在箱顶框架下面，箱底框架上安装汽缸、基板和升降导柱，基板上面安装旋转装置、旋转加强板和旋转轴，旋转加强板与箱顶框架固定连接，基板上面安装有直线滑轨、第一磁钢组件、第二磁钢组件以及磁性开关，直线滑轨上安装有载具，磁性开关、第二磁钢组件安装在载具运行路线的一端，第一磁钢组件安装在载具运行路线的另一端，汽缸安装在基板下面，汽缸与基板连接，升降导柱与基板配合，基板上安装LED底座，LED底座上安装LED指示矩阵。

本实用新型结构简洁，工作可靠，自动化程度高。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示意图；

图2是本实用新型实施例内部示意图。

具体实施方式

参见图1、图2，本实用新型实施例包括箱顶框架1、箱底框架2、旋转装置3、第一磁钢组件4、升降导柱5、测试针板6、载具7、LED底座8、气缸9、基板10、直线滑轨11、磁性开关12、旋转加强板13、旋转轴14、第二磁钢组件15、LED指示矩阵16。　

箱顶框架1主要安装控制电路板（包括MCU，可用现有技术实现）以及读卡器（Allflex Reader，为现有技术）, 测试针板6安装在箱顶框架1下面。箱底框架2上安装汽缸9、基板10和升降导柱5，基板10上面安装了旋转装置3，旋转加强板13以及旋转轴14，主要用来翻转夹具，便于维护保养。 旋转加强板13主要支撑箱顶框架1的重量。基板10上面同时安装直线滑轨11，第一磁钢组件4，第二磁钢组件15，以及磁性开关12，直线滑轨11上安装有载具7，磁性开关12及第二磁钢组件15安装在载具7运行路线的一端（载具7前方），第一磁钢组件4安装在载具7运行路线的另一端（载具7的后面），以及直线滑轨11安装在载具7的下面。汽缸9安装在基板10下面，汽缸9与基板10连接，升降导柱5与基板10配合。 

基板10上也将安装LED底座8，在LED底座8上安装LED指示矩阵16，其在待测试状态时位于载具7的正下方，主要用来显示测试结果。

测试过程:

在载具7上放一个待测产品。 载具7与第一磁钢组件4连接，此时随直线滑轨11推动载具7到第二磁钢组件15，磁性开关12打开，此时表明载具7已到指定位置，MCU接受到这个信号，启动控制程序，汽缸9推动载具7上升，就开始按固定的程序对芯片一个个地进行测试， LED指示矩阵16显示Pass/Fail的结果（待测芯片测试时，对应位置的LED亮红色(LED指示装置)，如果测试Pass，LED自动熄灭，如果Fail，则LED亮红色, 并且蜂鸣器响三声）。当80芯片测试完后，汽缸9自动下降。将载具7拉回到第一磁钢组件4位置。此时可以检查LED指示矩阵16显示，红色代表产品Fail，LED灯熄灭表示Pass。如果80个芯片全部测试pass，那么面板上的Pass LED指示灯亮绿色, Fail LED 不显示；如果80个芯片测试其中一个Fail，那么面板上的Fail LED指示灯亮红色，Pass LED不显示。这个主要提醒作业员操作, 以防止误判。

本实用新型与现有技术相比，具有以下优点和效果：

1、  采用MCU控制, 无需人工干预；

2、  效率高, 比原来将增加1倍以上，测试总时间: (Nr+0.5)*80 秒；

3、  操作简单, 维护方便, 当测试针有不良时, 可以通过NPEM10_30-1进行0-90度旋转, 可方便维护,清洁测试针板； 

4、   定位精确，无误测试。 

凡是本实用新型的简单变形或等效变换，应认为落入本实用新型的保护范围。