[实用新型]能够测试电子性能与光特性的电子元件测试机具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子元件测试机具，尤指一种可调整该电性测试模块的水平度与θ角度，而使该电性测试模块其所有探针都能稳固准确接触待测的电子元件，进而使本实用新型可达到提升测试合格率与效率的功效。

背景技术

一般的电子元件测试机具，如中国台湾专利公报第1258590号「量产式发光二极管测试装置」，请参阅图1所示，其包含控制模块10与至少一积分球测试模块20及至少一测试板15，该积分球测试模块20与该控制模块10电性连接，又该积分球测试模块20设有电性输出21与光输出22，该积分球测试模块20设有光输入口23与数个探针，另该测试板15对应于该积分球测试模块20设置，该测试板15上放置有数个发光二极管16，凭借该积分球测试模块20设有光输入口23与数个探针，而使该电子元件测试机具可以测试该发光二极管16的电特性与光特性，进而使该电子元件测试机具达到可同时测试电子元件的电特性与光特性的目的。

该现有的电子元件测试机具，虽可达到同时测试电子元件的电特性与光特性的目的，但该电子元件测试机具并无调整该积分球测试模块20其水平度或θ角度的机构设计，因此该测试板15其发光二极管16与积分球测试模块20其探针，两者之间常会因为共平面性(coplanarity)不佳或θ角度偏差，而使部分探针无法稳固准确地接触到待测的发光二极管16，致使测试的准确性与效率降低，进而导致该电子元件测试机具的测试合格率与产能降低，又，该测试板15与积分球测试模块20之间也无自动对位的机构设计，因此操作者须手动控制调整该测试板15的位置，如此将导致测试更为费时，进而造成使用上的不便。

因此，如何将上述等缺失加以摒除，即为本案实用新型设计人所欲解决的技术困难点的所在。

发明内容

有鉴于现有的电子元件测试机具，因其积分球测试模块无调整水平度或θ角度的结构设计，因此该测试板其发光二极管与积分球测试模块其探针之间容易因共平面性不佳或θ角度偏差，而使部分探针无法稳固准确地接触到待测的发光二极管，致使测试的准确性与效率降低，进而导致该电子元件测试机具的测试合格率与产能降低，因此本实用新型的目的在于提供一种能够测试电子性能与光特性的电子元件测试机具，凭借本实用新型其测试装置设有水平调整装置与旋转角调整装置，而可调整该电性测试模块的水平度与θ角度，而使该电性测试模块其所有探针都能稳固准确接触待测的电子元件，进而使本实用新型可达到提升测试合格率与效率的功效。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种能够测试电子性能与光特性的电子元件测试机具，其特征在于，包含：

一机体；

一进出片装置，该进出片装置设于机体内，该进出片装置设有第一传动机构，该进出片装置设有测试平台，该测试平台固设于第一传动机构上方；

一测试装置，该测试装置设于机体上，该测试装置设有第二传动机构，该第二传动机构一侧设有光特性测试模块，该测试装置设有电性测试模块，该测试装置设有至少三个水平调整装置，该水平该测试装置设有至少二个旋转角调整装置。

其中：该测试装置设有底座。

其中：该测试装置设有探针座。

其中：该水平调整装置设有第一穿孔与第一固定件，该第一固定件与第一穿孔相穿设。

其中：该旋转角调整装置设有抵部。

其中：该旋转角调整装置设有被抵部。

其中：该机体内设有控制器。

其中：该机体内设有马达。

其中：该光特性测试模块为积分球。

其中：该电性测试模块为探针卡。

与现有技术相比较，采用上述技术方案的本实用新型具有的优点在于：凭借本实用新型其测试装置设有水平调整装置与旋转角调整装置，而可调整该电性测试模块的水平度与θ角度，而使该电性测试模块其所有探针都能稳固准确接触待测的电子元件，进而使本实用新型可达到提升测试合格率与效率的功效。

附图说明

图1是现有结构的示意图；

图2是本实用新型的立体组合示意图；

图3是本实用新型其进出片装置的示意图；

图4是本实用新型其测试装置的示意图；

图5是本实用新型其测试装置的部分示意图；

图6是本实用新型其水平调整装置的动作前示意图；

图7是本实用新型其水平调整装置的动作后示意图；

图8是本实用新型其旋转角调整装置的动作前示意图；

图9是本实用新型其旋转角调整装置的动作后示意图。