[实用新型]用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种抽滤所用的滤杯，具体涉及一种适合用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯。

背景技术

现有报道X-射线荧光法(XRF)检测贵金属的方法，一般采用熔融法，直接将固体样品制成熔片，不仅设备和试剂成本高，且操作要求高，费时费力。同时，采用常规熔融法、压片法制样来检测贵金属，由于方法检出限高，限制了X-射线荧光法在痕量贵金属检测方面的应用。将贵金属预先富集制成薄样，用XRF检测时，能够克服X射线荧光光谱法检测贵金属样品时，采用常规制样方法检出限较高及难以进行含痕量金属的液体样品检测问题。但是预富集过程中采用目前现有的滤杯进行抽滤时，由于溶液体系对附着在滤膜上的富集产物的冲击力较大，使富集产物附着不均匀，表面不平整，不利于后续XRF检测的准确性。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯，所用滤杯可以减小溶液体系对富集产物的冲击力，使富集产物表面更平整，且使其更加均匀地集中到X射线荧光检测的测量面积内，有利于检测的准确性。

为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯，所述滤杯由中空的上部杯体和下部杯体构成且两端开口，上部杯体任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减小，下部杯体呈圆筒状，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口直径相等，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口连接使上部杯体与下部杯体形成一体。

而且，上部杯体的纵截面的边缘呈弧形。

而且，上部杯体的纵截面呈倒置的梯形。

而且，下部杯体的横截面的面积不超过X射线荧光的测量面积。

而且，下部杯体的底端开口为磨口。

本实用新型具有以下优点：

本实用新型提供的滤杯由于上部杯体的横截面面积逐渐减小，当用于在X射线荧光检测预富集制样过程中对富集产物进行抽滤时，使溶液体系沿滤杯杯壁的流速得以缓冲，减小了对已经附着在微孔滤膜上的富集产物的冲击，使富集产物更加均匀，此外，下部杯体的横截面面积小于X射线荧光的测量面积，从而使富集产物能够集中到测试面积范围内，有利于检测的准确性。

附图说明

图1为本实用新型提供的一种滤杯的整体结构示意图；

图2为本实用新型提供的另一种滤杯的整体结构示意图；

上述图中，1：上部杯体；2：下部杯体；3：上部杯体的顶端开口；4：下部杯体的底端开口。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型提供的滤杯作进一步的说明。

实施例1

本实用新型提供的一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯的结构如图1所示，所述滤杯由中空的上部杯体1和下部杯体2构成且两端开口(图1中以虚线示意，虚线以上的部分表示上部杯体1，虚线以下的部分表示下部杯体2)，上部杯体1的任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口3到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减小，本实施例中上部杯体1的纵截面的边缘呈弧形。下部杯体2呈圆筒状，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口直径相等，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口连接使上部杯体与下部杯体形成一体，下部杯体2的横截面的面积不超过X射线荧光的测量面积，下部杯体的底端开口4为磨口。

实施例2

图2所示为本实用新型提供的另一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯的结构，所述滤杯由中空的上部杯体1和下部杯体2构成且两端开口(图1中以虚线示意，虚线以上的部分表示上部杯体1，虚线以下的部分表示下部杯体2)，上部杯体1的任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口3到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减小，本实施例中上部杯体1的纵截面呈倒置的梯形。下部杯体2呈圆筒状，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口直径相等，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口连接使上部杯体与下部杯体形成一体，下部杯体2的横截面的面积不超过X射线荧光的测量面积，下部杯体的底端开口4为磨口。

本实用新型的滤杯在用于抽滤时，将下部杯体的底端开口4朝下平放于砂芯上部即可抽滤。由于上部杯体的横截面直径逐渐减小，抽滤时，使溶液体系沿滤杯杯壁的流速得以缓冲，减小了对已经富集在水系微孔滤膜上的样品的冲击力，使富集产物更加均匀、平整，此外，由于下部杯体的横截面面积不超过X射线荧光的测量面积，使富集产物能够集中到测试面积范围内，有利于后续进行XRF测试的准确性。