[实用新型]一种光源老化试验测量装置有效
申请号: | 201120149792.0 | 申请日: | 2011-05-11 |
公开(公告)号: | CN202188951U | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 潘建根 | 申请(专利权)人: | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310053 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光源 老化试验 测量 装置 | ||
【技术领域】
本实用新型属于光辐射测量领域,具体涉及一种光源老化试验测量装置。
【背景技术】
LED等新型光源以其寿命长、绿色环保等优势逐渐替代传统光源成为市场主流,然而上述优点却成为了为准确评价其性能而进行的试验的障碍。例如,新型光源的长寿命、高稳定性等特点决定了其在正常工作条件下短时间内燃点,其光电性能几乎不发生改变。因此,必须通过加速试验的方法才能正确评价其性能。
公开号为CN101799357A以及CN201017022Y的实用新型专利都公开了光源加速试验方法及其装置,都将被测光源置于温控试验室内,通过温控试验室来改变被测光源的环境条件,进行加速老化试验,并通过测量其光电参数随时间的变化数据,推算被测光源的与寿命和可靠性相关的各项特性参数,这是目前较为典型、也是较为先进的光源加速老化和寿命试验方法。上述公开文件中,都存在同样的没有解决的问题:假如测量仪表本身状态发生变化,则无法区别这种变化是来自被测光源还是来自测量仪表自身,给试验带来极大的不确定性。
【实用新型内容】
为了克服现有技术中存在的上述缺陷,本实用新型通过引入参比光源,旨在提供设计简单,操作方便,能消除或校正测量仪表自身变化的光源老化试验装置,以大幅提高试验的准确度,从而准确判断光源的光学参数变化。
为达到上述目的,本实用新型采用了下列技术方案:
本实用新型所述的一种光源老化试验测量装置,包括试验室,在试验室内设有被测光源和取样装置,其特征在于,试验室内设有参比光源,或者所述的参比光源设置在试验室外,通过导光器将参比光源所发出的光线导入到试验室内;所述的被测光源和参比光源与可程控供电电源电连接;取样装置接收被测光源和参比光源所发出的光线,并将光信号传输到与其相连接的测光仪表中。
所述的可程控供电电源控制被测光源在老化阶段被点亮并以此在一定的温度环境中实施被测光源的老化,而参比光源仅在被测光源的某一老化阶段之前或之后被点亮,其点亮的目的就是为了测光仪表实施对参比光源和被测光源的比较测量。由于在被测光源老化时,参比光源是不工作的,参比光源本身又是较为稳定的光源,在规定条件下点燃参比光源始终能得到其较为稳定的光学参数,因此,在被测光源的某一老化阶段之前或之后同时测量被测光源和参比光源的光学参数,能有效消除或校正测光仪表自身变化所带来的误差。为了便于说明, 测光仪表在被测光源的某一老化阶段之前或之后测量被测光源和参比光源的光学参数的过程称为比较测量阶段。
上述测量方法进一步说明如下:
在被测光源某一老化阶段之前,测光仪表测得参比光源和被测光源的光学参数读数分别为Y1和YT1;在该老化阶段后,测光仪表测得参比光源和被测光源的光学参数读数分别为Y2和YT2,假设测光仪表在老化前后的仪器系数(光学参数读数与真值的比)分别为k1和k2,参比光源光学真值为Yr,被测光源在老化前后光学真值为YTr1和YTr2,则有:
Y1=k1*Yr (1)
Y2=k2*Yr (2)
YT1=k1*YTr1 (3)
YT2=k2*YTr2 (4)
从上式得:
YTr1=(YT1/Y1)*Yr (5)
YTr2=(YT2/Y2)*Yr (6)
式(6)和式(5)相除,就很容易得到被测光源的光学参数的相对变化比L:
L=(YTr2/YTr1)=(YT2/YT1)*(Y1/Y2)*100% (7)
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