[实用新型]通用质量质心测量平台无效

专利信息
申请号: 201120158552.7 申请日: 2011-05-18
公开(公告)号: CN202092829U 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 于洋;梁巨峰;邱龙;李德成;汪敏华 申请(专利权)人: 首都航天机械公司
主分类号: G01M1/12 分类号: G01M1/12
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 通用 质量 质心 测量 平台
【权利要求书】:

1.一种通用质量质心测量平台,它包括底座(1),它为正八角形的环状结构,其特征在于:所述底座(1)的中轴上设有导轨(2)和滑动丝杠(3),该滑动丝杠(3)上设有滑块(4),该滑块(4)与连接杆(23)的一端连接,在底座(1)的边上均匀的间隔设有传感器和千斤顶(5);相邻两个千斤顶(5)为一组,每组的两个千斤顶(5)之间设有丝杠(9)和同步机构I(10),所述两个同步机构I(10)之间设有丝杠(9)和同步机构II(11),在底座(1)边上还设有手柄(12),所述的同步机构II(11)和手柄(12)之间通过丝杠(9)连接;所述的底座(1)上方设有双层环状结构平台,每层平台的侧面均为圆锥面,两层平台之间的一侧设有连接板(22),连接板(22)上设有卷簧转轴(21),另一侧设有定位板(18),定位板(18)上设有连接孔(19),该连接孔(19)内放置销子将上下平台位置锁定;所述的定位板(18)与连接杆(23)的另一端连接;所述的双层环状平台的下表面对应传感器的位置设有传感器接口(17)。

2.如权利要求1所述的通用质量质心测量平台,其特征在于:所述双层平台包括第一平台(14)和第二平台(13),所述的第一平台(14)的最大测量半径小于第二平台(13)的最小测量半径,并且第一平台(14)位于第二平台(13)之上。

3.如权利要求1所述的通用质量质心测量平台,其特征在于:所述双层平台包括第一平台(14)和第二平台(13),所述的第一平台(14)的最大测量半径小于第二平台(13)的最小测量半径,并且第二平台(13)位于第一平台(14)之上。

4.如权利要求1或2或3所述的通用质量质心测量平台,其特征在于:所述的定位板(18)设有三个连接孔(19),连接孔(19)的间隔距离根据双层平台之间的夹角确定,在上下两侧的定位板(18)分别选取一个连接孔,使得通过选中的两个连接孔(19)能够竖直方向固定连接一个定位支杆(30)。

5.如权利要求1或2或3所述的通用质量质心测量平台,其特征在于:所述的滑块(4)上固定设有滑动平板(20),其上设有连接板(22),该连接板(22)与所述连接杆(23)连接,所述的滑动平板(20)还固定设有支撑挡板(24),该支撑挡板(24)上固定设有支撑销钉(25)。

6.如权利要求1或2或3所述的通用质量质心测量平台,其特征在于:在所述的双层平台与待测量件安装的上表面上设有槽,在槽内底部加工通孔,在槽内设有连接块(27),所述的连接块(27)的中心设有销孔(28)和销钉孔(29),并且所述的销孔(28)和销钉孔(29)的位置与槽内底部的通孔位置对应。

7.如权利要求1或2或3所述的通用质量质心测量平台,其特征在于:所述的底座(1)安装传感器的四个边上设有小滑道(8),在该小滑道(8)第一传感器(6)和第二传感器(7),使得第一传感器(6)和第二传感器(7)在小滑道(8)上滑动。

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