[实用新型]一种纳米同轴电缆异质结阵列基紫外探测器无效

专利信息
申请号: 201120162340.6 申请日: 2011-05-20
公开(公告)号: CN202049984U 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 付姚;邢明铭;罗昔贤;张映辉;彭勇 申请(专利权)人: 大连海事大学
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;H01L31/0264
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 李洪福
地址: 116026 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 同轴电缆 异质结 阵列 紫外 探测器
【权利要求书】:

1.一种纳米同轴电缆异质结阵列基紫外探测器,包括基底(1)、导电薄膜(2),所述的导电薄膜(2)位于基底(1)上;所述的基底(1)是玻璃基底(1)、金属基底(1)或硅基底(1),其特征在于:所述的导电薄膜(2)上有作为紫外光吸收层的NiOTiO2纳米同轴电缆异质结阵列(3)和至少一个N型欧姆电极(5),所述的NiOTiO2纳米同轴电缆异质结阵列(3)上有至少一个P型欧姆电极(4);所述的NiOTiO2纳米同轴电缆异质结阵列(3)为TiO2纳米管(301)阵列和填充于TiO2纳米管(301)内的NiO纳米线(302)构成,所述的TiO2纳米管(301)阵列由生长方向垂直于导电薄膜(2)的TiO2纳米管(301)平行排列构成,所述的每一根TiO2纳米管(301)内均生长有一根NiO纳米线(302)。

2.根据权利要求1所述的一种纳米同轴电缆异质结阵列基紫外探测器,其特征在于:所述的导电薄膜(2)为氧化铟锡ITO导电薄膜(2)或掺氟SnO2FTO导电薄膜(2)。

3.根据权利要求1所述的一种纳米同轴电缆异质结阵列基紫外探测器,其特征在于:所述的P型欧姆电极(4)和N型欧姆电极(5)为点状结构或环形结构或曲线结构。

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