[实用新型]测量断路器开闭时间的测量装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电性能测试技术领域，尤其涉及一种测量断路器开闭时间的测量装置。

背景技术

断路器主触头的开闭时间是其一项非常重要的性能指标。开闭时间不合格的会引起燃弧时间增长或缩短其使用寿命。目前涌现出许多对断路器的开闭时间的测试的方法，常见的有利用DSP芯片为主控单元来测试的、以单片机为主控单元测试的等。但是这些测试系统的开发调试都比较复杂，限制了其应用范围。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种精度高的测量断路器开闭时间的测量装置。

为达到上述目的及其他目的，本实用新型提供的测量断路器开闭时间的测量装置，包括：用于发送开闭信号的主控装置，其具有用于显示测试时间及断路器触头开闭波形的显示单元；与所述主控装置连接且用于传送所述开闭信号的ZT-PCI8335信号采集卡，其包括第一计时单元与由所述开闭信号控制的模数转换单元；与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接且用于根据所述开闭信号来控制断路器开闭的控制电路；信号反馈电路，与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，其根据所述开闭信号及断路器的状态输出门控信号至所述第一计时单元，并将所采集的所述断路器触头信号送入所述模数转换单元以进行模数转换；由所述开闭信号控制的第二计时单元，其输出停止信号至所述模数转换单元以停止模数转换。

综上所述，本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置以ZT-PCI8335信号采集卡作为主控装置与控制断路器的控制电路之间的连接器件，由此方便对断路器的控制及触头信号的采集，本测量装置简单，性能可靠。

附图说明

图1是本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置的基本架构示意图；

图2是本实用新型的测量断路器开闭时间的主控装置提供的显示界面示意图；

图3是本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置的控制电路的电路示意图；

图4是本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置的信号反馈电路的电路示意图。

具体实施方式

请参阅图1，本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置包括：主控装置、ZT-PCI8335信号采集卡、控制电路、信号反馈电路及第二计时单元。

所述主控装置用于发送开闭信号，其具有用于显示测试时间及断路器触头开闭波形的显示单元。在本实施例中，所述主控装置内置有LABVIEW软件，能提供图2所示的显示界面，该显示界面包含显示断路器开闭时间的显示栏、显示断路器触头开闭波形的显示栏、指示计数状态的指示信号、以及发出开闭信号的开闭按钮等。

所述ZT-PCI8335信号采集卡与所述主控装置连接，用于传送所述开闭信号，其包括第一计时单元与由所述开闭信号控制的模数转换单元。

所述控制电路与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，用于根据所述开闭信号来控制断路器开闭。

作为一种优选方式，所述控制电路包括：光耦及对对断路器的线圈进行控制的12V直流继电器。如图3所示，其为所述控制电路的电路示意图。当开闭信号使晶体管Q8导通，光耦U2随之导通，晶体管Q9基极变为高电平，从而晶体管Q9导通，继电器K1回路导通，继电器K1常开触点01K和01C闭合。01K和01C连接断路器的线圈，从而控制断路器的触点闭合；当开闭信号使晶体管Q8截止，光耦U2随之截止，晶体管Q9基极变为低电平，从而晶体管Q9截止，继电器K1回路没有电流，继电器K1常开触点01K和01C断开，从而控制断路器的触点断开。

所述信号反馈电路与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，其根据所述开闭信号及断路器的状态输出门控信号至所述第一计时单元，并将所采集的所述断路器触头信号送入所述模数转换单元以进行模数转换。