[实用新型]吸附微小物体的吸气组件有效

专利信息
申请号: 201120178043.0 申请日: 2011-05-30
公开(公告)号: CN202072281U 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 李建平;房贵磊 申请(专利权)人: 天津必利优科技发展有限公司
主分类号: B65G47/91 分类号: B65G47/91
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 杜文茹
地址: 300451 天津市塘沽*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 吸附 微小 物体 吸气 组件
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种吸气组件。特别是涉及一种能够使被测物体不被测试机构带出定位装置的吸附微小物体的吸气组件。

背景技术

在对晶体进行测试时,通常是将晶体放置在定位装置上的晶体放置槽内,定位装置固定在分度盘上,在定位装置的上方有测试机构,用于对晶体进行测试。所述的测试机构是采用探针测试的方式对其进行检测,测试机构控制探针上下运动完成测试动作。被检测的石英晶非常轻小。在石英晶体检测过程中,由于探针的压力以及粘连吸附等作用,轻小的晶体在与探针接触过程中经常被探针带出定位装置,导致不能正常检测。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是,提供一种在分度盘下设置能够吸住晶体的吸气组件,使晶体良好定位,以避免被探针带走的吸气组件。

本实用新型所采用的技术方案是:一种吸附微小物体的吸气组件,包括:

吸头结构,用于吸附放置在固定于分度盘上的定位装置内的微小物体;

气缸,所述的气缸通过管路和设置在管路上的气缸控制阀连接压缩气体,所述气缸的伸缩部件连接吸头结构的底部,用于驱动吸头结构上下动作;

底座,所述的底座上设置有气缸安装板,所述的气缸安装板上固定所述的气缸。

所述的吸头结构包括:吸头固定板,所述的吸头固定板的底面连接在气缸的伸缩部件上;多个吸头定位块,分别固定在吸头固定板上;吸头,固定在吸头定位块上,用于吸附微小物体。

所述的吸头固定板上固定有与测试结构相对应的3个吸头定位块,每个吸头定位块上设置有2个吸头,所述的用于放置微小物体的定位装置和分度盘上在与吸头相对应处开有贯通孔。

所述的吸头通过管路连接提供用于吸附微小物体的真空负压的真空发生器,所述的管路上设置有用于打开或关闭真空发生器的真空开关阀。

本实用新型的吸附微小物体的吸气组件,通过在分度盘下设置吸气组件,在探针测试下降过程中,利用真空吸附定位装置中的晶体,使晶体良好定位,避免了晶体被探针带走的现象。本实用新型结构简单,使用方便,能够有效的吸附住微小物体。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图;

图2是图1的后视图。

其中:

1:底座            2:气缸安装板

3:气缸            4:吸头结构

5:吸头            6:吸头固定板

7:吸头定位块      8:定位装置

9:分度盘

具体实施方式

下面结合实施例和附图对本实用新型的吸附微小物体的吸气组件做出详细说明。

本实用新型的吸附微小物体的吸气组件,是石英晶体检测设备的一部分。被检测的石英晶体非常轻小,采用探针测试的方式对其进行检测,测试机构控制探针上下运动。晶体被置放在定位装置中,定位装置固定在分度盘上,探针上下运动完成测试动作。为了避免石英晶体被探针带走,本实用新型在分度盘下设置有吸气组件,在探针测试下降过程中,利用真空吸附定位装置中的晶体,使晶体良好定位。

如图1、图2所示,本实用新型的吸附微小物体的吸气组件,包括:吸头结构4,用于吸附放置在固定于分度盘9上的定位装置8内的微小物体;气缸3,所述的气缸3通过管路和设置在管路上的气缸控制阀连接压缩气体,所述气缸3的伸缩部件连接吸头结构4的底部,用于驱动吸头结构4上下动作;底座1,所述的底座1上设置有气缸安装板2,所述的气缸安装板2上固定所述的气缸3。

所述的吸头结构4包括:吸头固定板6,所述的吸头固定板6的底面连接在气缸3的伸缩部件上;多个吸头定位块7,分别固定在吸头固定板6上;吸头5,固定在吸头定位块7上,用于吸附微小物体。所述的吸头固定板6上固定有与测试结构相对应的3个吸头定位块7,每个吸头定位块7上设置有2个吸头5,所述的用于放置微小物体的定位装置8和分度盘9上在与吸头5相对应处开有贯通孔。探针下降进行测试时,吸气组件控制吸盘上升,与分度盘接触并导通真空气路,吸住晶体。所述的吸头5通过管路连接提供用于吸附微小物体的真空负压的真空发生器,所述的管路上设置有用于打开或关闭真空发生器的真空开关阀。

本实用新型的吸附微小物体的吸气组件的工作过程是:

将吸头与被测晶体相对应放置,开启气缸控制阀,由气缸驱动吸头机构上升,吸头顶到分度盘后,开启真空开关阀,使吸头充有真空负压并穿过定位装置8和分度盘9上的贯通孔吸附住被测晶体,测试机构对晶体进行测试。测试完毕,测试机构离开晶体,即探针上升后,关闭真空开关阀,开启气缸控制阀,使吸头机构下降,回到原始位置,从而使被测晶体不会被测试机构上升时带出定位装置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津必利优科技发展有限公司,未经天津必利优科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120178043.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top