[实用新型]镭射测高检具有效
| 申请号： | 201120179483.8 | 申请日： | 2011-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN202126247U | 公开（公告）日： | 2012-01-25 |
| 发明（设计）人： | 史树杰 | 申请（专利权）人： | 应华精密表面处理(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 镭射 测高 | ||
【权利要求书】：
1.一种镭射测高检具，其特征在于：其包括一机架，所述机架上设有一放置产品用的平台，所述平台的一侧设有一镭射测高主机，所述镭射测高主机上设有可上下移动的探头，所述镭射测高主机与一LCD连接。
2.根据权利要求1所述的镭射测高检具，其特征在于：所述平台上设有基准块，所述探头下端设有限位块，所述限位块与所述基准块位置相对，所述平台上还设有一产品仿形治具，所述产品仿形治具的上表面与所述基准块的上表面位于同一水平面上。
3.根据权利要求2所述的镭射测高检具，其特征在于：所述机架上还有归零块，所述归零块与所述限位块相对，所述归零块通过一开关与所述镭射测高主机连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应华精密表面处理(苏州)有限公司，未经应华精密表面处理(苏州)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120179483.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
