[实用新型]基于USB HUB和DIO总线的测试系统公用接口

说明书

技术领域

本发明涉及接口技术，尤其涉及一种基于USB HUB和DIO总线的测试系统公用接口。

背景技术

常规测试系统结构有如下缺点：

1控制总线总类繁多，硬件成本高，测试系统结构复杂，因控制总线种类繁多同时也使软件开发变得复杂，延长了软件开发周期，增加软件开发成本。

2测试系统的输出端口多样化，增加测试系统所需连接线材和适配器的种类，增加了材料、加工和管理成本，也有碍系统标准化发展和基本单元的复用。

3仪器、板卡的外形不一，使仪器、板卡布局变得比较复杂，集成后总体积过于庞大。

随着虚拟仪器概念的诞生，出现了单卡仪器，模块化、高密度的单卡仪器使控制总线和测量端口多样化，给测试系统集成带来极大的影响。虚拟仪器是仪器仪表、测试控制研究与发展的方向，用虚拟仪器工具作为软件开发平台，比常用的面向对象软件编程难度大大降低，使得软件开发效率高，界面友好，功能强大，且扩展性好，对采集到的数据可用于高级分析库进行信号处理，也可以为了使所得测试曲线符合实际情况，进行拟合处理。本实用新型利用虚拟仪器的原理解决以往测试系统存在的不足。

发明内容

本实用新型解决以往技术存在的不足，提供一种结构简单，开发周期短，节省元器件，成本低的测试系统的公用接口。

为实现上述目的，本实用新型基于USB HUB和DIO总线的测试系统公用接口，包括上位机、USB HUB、USB数据线及USB DIO Card，上位机连接USB HUB，USB HUB通过USB数据线连接USB DIO Card，USB HUB上预留若干个USB接口，USB DIO Card预留若干个并行总线设备接口。

较佳的，所述USB DIO Card连接8BIT BUS；

较佳的，所述USB DIO Card连接16BIT BUS或32BIT BUS。

本实用新型有如下优点：采用USB HUB路由利于实现对功能仪器的控制和扩展；标准化测试板卡的总线结构，定义统一的接口形式；可以最大程度地减少测试板卡测量端连接器的类形。

附图说明

参考下文之现时较佳实施例的描述以及附图，可较佳地理解本发明及其目的与优点。

图1为常规测试系统构架示意图。

图2为常规测试系统软件构架示意图。

图3为本实用新型的系统结构示意图。

图4为本实用新型的软件构架示意图。

具体实施方式

参照附图1和2说明本发明的较佳实施方式。

测试系统的本实用新型采用USB HUB路由的方式来实现对功能仪器的控制和扩展；采用DIO总线控制和夹具常规的动作执行或者测试控制，基于USB HUB和DIO总线的测试系统公用接口，上位机连接USB HUB，USB HUB通过USB数据线连接USB DIO Card，USB HUB上预留若干个USB接口，USB DIO Card预留若干个并行总线设备接口；所述USB DIO Card连接8BIT BUS；所述USB DIO Card还可以连接16BIT BUS或32位BIT BUS，BUS上连接若干个并行总线设备。

本实用新型优点为：

1采用USB HUB路由的方式来实现对功能仪器的控制和扩展；

2在测试系统中设计一块DIO总线卡，实现测试系统8、16或32位总线控制和夹具常规的自动动作执行DIO需求；

3标准化测试板卡的总线结构，定义统一的接口形式。

4最大程度地减少测试板卡测量端连接器的类形。

这里本发明的描述和应用是说明性的，并非想将本发明的范围限制在上述实施例中。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的，对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是，在不脱离本发明的精神或本质特征的情况下，本发明可以以其他形式、结构、布置、比例，以及用其他元件、材料和部件来实现。在不脱离本发明范围和精神的情况下，可以对这里所披露的实施例进行其他变形和改变。