[实用新型]机械密封平面度检测仪无效
申请号: | 201120221850.6 | 申请日: | 2011-06-28 |
公开(公告)号: | CN202119415U | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 项寿东 | 申请(专利权)人: | 温州东大环保设备有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 325011 浙江省温州市瓯*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 机械 密封 平面 检测 | ||
技术领域
本实用新型涉及用于计量表面的粗糙度或不规则性的仪仪,特别是涉及一种机械密封平面度检测仪。
背景技术
一般零件经历过各种成形工序后,表面应力发生改变,板材会发生翘曲变形,严重的可能影响到外观或者是装配性能,因此需要对零件的表面度进行检测,生产中常用的检测方法为平台塞尺法:将零件平放在平台上,使用零件平面度要求规格数值的塞尺塞于零件与平台之间的间隙处,通过塞尺是否能塞入间隙来判断零件的平面度是否合格;此方法操作繁琐,工作效率低,并且当零件周缘平面度合格而中部平面度不合时候,使用该方法无法检测,检测误差也较大。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种操作简单,检测精度高的机械密封平面度检测仪。
本实用新型的机械密封平面度检测仪,包括检测仪壳体和位于该壳体下方的底板,所述检测仪壳体上表面设有通孔,所述检测仪壳体上端设有平面平晶,所述检测仪壳体内还设有钠光灯,所述底板连接在检测仪壳体下面,所述底板内设有电感,所述底板还连接有支架,支架上固定有可上下活动的磨砂玻璃。
本实用新型的机械密封平面度检测仪,所述平面平晶通过与平面平晶相对应的圆环连接在检测仪壳体上,平面平晶与检测仪壳体上表面的通孔同心放置。
本实用新型的机械密封平面度检测仪,检测仪壳体侧面还设有能穿过电源线的圆孔,检测仪壳体侧面还设置有电源开关。
本实用新型的机械密封平面度检测仪,所述支架位于电感的前面。
本实用新型的机械密封平面度检测仪,所述磨砂玻璃在钠光灯的上方。
与现有技术相比本实用新型的有益效果为:本实用新型的机械密封平面度检测仪检测仪壳体上表面设有通孔,检测仪壳体上端设有平面平晶,检测仪壳体内还设有钠光灯,底板连接在检测仪壳体下面,底板内设有电感,底板还连接有支架,支架上固定有可上下活动的磨砂玻璃;使用起来操作简单,效率提高,而且能全方位的检测零件的平面度,检测精度高。
附图说明
图1是本实用新型的立体图;
图2是本实用新型未放置平面平晶的立体图;
图3是图2的沿A-A展开的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。
如图1和图2所示,一种机械密封平面度检测仪,包括检测仪壳体1和位于该壳体下方的底板3,检测仪壳体1上表面设有通孔11,检测仪壳体1上端设有平面平晶2,平面平晶2通过与平面平晶2相对应的圆环8连接在检测仪壳体1上,平面平晶2与检测仪壳体1上表面的通孔11同心放置;检测仪壳体1侧面还设有能穿过电源线的圆孔10,检测仪壳体侧面还设置有电源开关9;检测仪壳体1内还设有钠光灯6;底板3连接在检测仪壳体1下面,底板1内设有电感7,底板1还连接有支架4,支架4位于电感7的前面,支架4上固定有可上下活动的磨砂玻璃5,磨砂玻璃5在钠光灯6的上方。
具体实施步骤如下:
1、准备工作:①将机械密封平面度检测仪水平平稳摆放,固定好位置。②将机械密封平面度检测仪连接线插头拉出接入电源插座,保证连线可靠。③取出平面平晶2固定放置在检测仪壳体1上表面的通孔11上。
2、开机:①接通电源。②打开检测仪壳体侧面的电源开关9,钠光灯6点亮,稍等2-3分钟,灯光颜色转为红色后就可以开始检测了。
3、检测:①将工件需检测的平面放置在平面平晶2的中心位置上。②调整磨光玻璃5的角度,工件平面会通过平面平晶2经钠光灯6照射反映在磨光玻璃5上,把磨光玻璃5所显示的图案,对照光谱图示参照图,找出相似或接近的图示,即可检测出该工件的平面度,如显示的图案不清晰,可轻轻转动工件,查看磨光玻璃5上显示的图案,找出一个清晰的图案再去与常见干涉光线带图对照,找出与其对应的图片来,在通过平面度检测对照数据找出其检测的数据。
4、关机:关闭检测仪壳体2侧面的电源开关9,拔出电源插头。平面度检测对照数据:一条光带约等于0.001-0.002mm;
两条光带约等于0.003-0.004mm;
三条光带约等于0.005-0.006mm;
多条光带约等于0.008-0.01mm或以上。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
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