[实用新型]带温度自动补偿装置的过程校验仪有效
| 申请号： | 201120242333.7 | 申请日： | 2011-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN202141540U | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 姜维利 | 申请（专利权）人： | 北京康斯特仪表科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 鲁兵 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 温度 自动 补偿 装置 过程 校验 | ||
【权利要求书】：
1.一种带温度补偿校准装置的过程校验仪，包括校验仪主体，其特征在于，所述主体的壳体的后上端设有一与壳体连为一体的保温盒，保温盒底面为热偶支架压板，侧面为主体外壳部分，上面为标定仓盖，热偶支架压板上架设一测温电阻和一温度传感器插座，测温电阻连接铜导线，铜导线自由端与该传感器插座配合，传感器插座与校验仪主体内的传感器信号处理电路连接。
2.根据权利要求1所述带温度补偿校准装置的过程校验仪，其特征在于，所述保温盒侧面还设用于与二次仪表输入端的两条补偿导线连接的输出端子，该输出端子连通校验仪主体中的模拟信号输出电路。
3.根据权利要求1或2所述带温度补偿校准装置的过程校验仪，其特征在于，所述标定仓盖与保温盒侧面之间卡接扣合。
4.根据权利要求1或2所述带温度补偿校准装置的过程校验仪，其特征在于，所述测温电阻为温度传感器。
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