[实用新型]一种无源标签的测试系统无效

专利信息
申请号: 201120248548.X 申请日: 2011-07-14
公开(公告)号: CN202120290U 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 张尊兰;王顺仁;郭晶;刘丹;杨威 申请(专利权)人: 航天信息股份有限公司
主分类号: G06K17/00 分类号: G06K17/00
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 100195 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 无源 标签 测试 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及无源标签测试领域,特别是涉及一种无源标签的测试系统。

背景技术

无线射频识别(RFID)技术是一种在物流、防伪、制造、运输、零售、国防等方面得到广泛应用的通信技术,其基本工作原理为:读写器生成电磁波形式的入射信号,将其通过读写天线以一定功率向无源标签发射,无源标签的标签天线接收该信号,并将其发送到无源标签中的芯片,该芯片依靠标签天线送来的信号的能量对该信号进行处理,并将处理后得到的反射信号通过标签天线发射出去,反射信号被读写天线接收后送回读写器。

无源标签的工作频率高,可读写距离长,无需外部电源,且制造成本低,因而RFID系统得到了广泛应用,其中的无源标签数量巨大,其性能决定了RFID系统的应用效果,因而对无源标签性能指标的测试时RFID技术中重要的内容之一。

现有的无源标签测试系统的结构如图1所示。无源标签103和接收天线104位于读写天线101的两侧,二者与读写天线101的距离相等,且读写天线101的最大辐射方向可以分别与无源标签103的标签天线的最大辐射方向、接收天线104的最大辐射方向在同一水平面内。读写器102与读写天线101相连。该测试系统的工作原理如下:读写器102通过读写天线101分别向无源标签103发射相同频率和相同功率的电磁波信号,无源标签103对该电磁波信号进行处理后发出反射信号,读写天线101接收该反射信号并将其送回读写器102,读写器102可以将该反射信号的一些特征(如频率、功率、数据等)送到处理器105(如计算机、FPGA、MCU等)进行处理,处理器105同时还处理接收天线104所接收的电磁波信号,通过分析上述读写器102和接收天线104送来的信息,处理器105就可以获得无源标签103的性能指标。

如图1所示,由于读写天线101的最大辐射方向的限制,以及尽可能减少无源标签103的反射信号对于接收天线104的影响的需要,无源标签103和接收天线104要位于读写天线101的两侧,图1所示的无源标签103的中心与接收天线104的中心之间的距离R约为10米,这样,该测试系统对于测试场地的大小的要求比较高。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种无源标签的测试系统,能降低对于测试场地的大小的要求。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下:一种无源标签的测试系统,该系统包括:天线架;测试架;位于所述天线架上的读写天线;位于所述测试架上的所述无源标签、隔离板、接收天线;读写器;频谱仪;计算机;其中,

所述隔离板为平面形,其位于水平面内;所述无源标签和所述接收天线位于所述隔离板的两侧,且二者中心之间的连线与所述隔离板相垂直;所述无源标签和所述接收天线在所述隔离板上的投影均在所述隔离板的边缘以内;所述无源标签、隔离板和接收天线可沿所述测试架移动;

所述读写天线和所述接收天线的最大辐射方向均在水平面内,且所述测试架的高度与所述天线架的高度相配合,使所述无源标签的中心、所述隔离板、所述接收天线的最大辐射方向均可与所述读写天线的最大辐射方向在同一水平面内;

所述无源标签的中心与读写天线在水平面内的距离R满足其中,D为所述读写天线的最大直径,λ为所述读写天线发射的电磁波信号的波长;

所述读写器与所述读写天线相连,以将入射信号传输到所述读写天线进行发射,并从所述读写天线收集其接收的所述无源标签发出的反射信号;所述读写器与所述计算机相连,以将其传输的所述入射信号的频率和功率、其收集的所述反射信号的功率相对应,实时发送到所述计算机,并受所述计算机的控制;

所述接收天线与所述频谱仪相连,以将其接收的所述入射信号发送到所述频谱仪;所述频谱仪与所述计算机相连,以将所述接收天线所接收的所述入射信号的功率发送到所述计算机。

本实用新型的有益效果是:本实用新型中,由于在无源标签和接收天线之间设置了用于隔离电磁波的隔离板,二者中心的连线与隔离板平面相垂直,且二者在平面形隔离板上的投影均在隔离板的边缘以内,因此,隔离板能将无源标签所发出的反射信号全部屏蔽掉,使接收天线完全不受无源标签的影响,这样,本实用新型就可以使无源标签和接收天线同时位于同一测试架上,而将读写天线设置在天线架上,无源标签的中心(或接收天线)与读写天线在水平面内的距离R满足即可,该测试系统所需的测试场地的大小可比现有技术减少一半以上,从而降低了对于测试场地的大小的要求。

在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进:

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