[实用新型]直读式激光高度测量仪有效

专利信息
申请号: 201120251389.9 申请日: 2011-07-18
公开(公告)号: CN202229732U 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 魏蓝天;潘恒;华柏寿 申请(专利权)人: 魏蓝天
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01C5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 212124 江苏省镇江市*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 直读 激光 高度 测量仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于高度测量仪器,特别是一种直读式激光高度测量仪。 

背景技术

现有的高度测量仪器,如文献1中国专利申请号201110197568.6公开的高度测量仪,包括:承载架、可调式支脚、角度测量装置、显示装置、激光发射器,其特征在于,还包括:微处理器,其中,承载架的下端面设置有若干用于调节水平的可调适支架,承载架的上端设置有激光发射器,激光发射器与承载架之间通过铰接方式相连,激光发射器可绕铰接轴180度旋转,激光发射器与水平面的角度由角度测量装置获得,角度测量装置获得角度值输入微处理器,微处理器同时接收用于得到高度大小的参数,在接收所需的参数后,微处理器自动运行,处理得到建筑物的高度大小,并在显示装置上显示出来。工作原理是:将本实用新型装置水平调节,距离地面的高度为h,在位置一处,位置一与建筑物之间的水平距离为L,此时调节激光发射器角度,使得激光发射器发出的激光射在建筑物的顶端,角度测量装置记录下此时激光发射器与水平面之间的角度为α;然后,将本实用新型装置移到位置二处,位置一和位置二之间的距离为S,激光发射器发出的激光射在建筑物的顶端,角度测量装置记录下此时激光发射器与水平面之间的角度为β,两次角度α和β,两个距离h和L,一个高度h均输入微处理器,微处理器中存储有建立的数学模型:由方程组:Sinα/H=Cosα/L(公式一),Sinβ/H=Cosβ/(L-S)(公式二)。由上述两个方程可得到建筑物高度H,H=Sinβ/(tanβcotα-1)+h(公式三),微处理器则根据公式三,运算获得建筑物的高度。 

文献1公开的这种高度测量仪,一方面由于其需要在两个位置进行两次角度α和β、三个距离h和L及S的测量,先后5次测量产生的测量误差必然使测量结果产生的系统误差和随机误差均因测量次数的增加而加大,影响了测量结果的正确性;另一方面其结构复杂,不仅使用和维护难度大,而且制造难度高、造价不菲,难以普及使用。 

由此可见,设计一种简易实用,直观方便的直读式激光高度测量仪是必要的。 

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足,设计一种简易实用,直观方便的直读式激光 高度测量仪。 

本实用新型的技术方案是:一种直读式激光高度测量仪,包括底座,位于底座下面的1个固定脚、2个带有调节螺母的可调脚,固定于底座面板中央的气泡水平仪,其特征是设计有垂直于底座面板、固定在底座上的立柱,平行于底座面板、配置在立柱上端的转轴,盘中心活动地套接在转轴上的圆形刻度盘,依据刻度盘中心与被测目标物底部水平间距而标定的高度读数刻度,活动地套接在刻度盘后面、与其同一转轴上的手柄,紧靠刻度盘边缘、且固定于手柄上的激光发射器,沿刻度盘径向发射的、紧贴刻度盘盘面的红色激光束。 

本实用新型的目的还可以采取如下的进一步技术措施来实现: 

所述依据刻度盘中心与被测物体底部水平间距而标定的高度读数刻度中的标定,是指依据算式H=L tanα+H0计算标定,式中,H是指经过刻度盘盘面中心的红色激光束的光点,对准被测目标点时测得的高度值;L是指刻度盘中心与被测目标物底部之间的水平间距;α是指红色激光束的光点对准被测目标点时,激光束与水平线之间的夹角;H0是指红色激光束的光点对准被测目标点时,刻度盘中心与被测目标物底部之间的垂直高度,也就等于刻度盘盘面中心到底座下面地面的垂直距离。所述高度读数刻度中优选L为100厘米、300厘米、500厘米、700厘米时计算标定的读数刻度。上述设计的技术效果是:当选定刻度盘中心与被测目标物底部之间的水平间距为优选的距离时,转动手柄及其上的激光发射器,使红色激光束通过刻度盘中心,并同时将此激光束的光点对准被测目标点,此时红色激光束在刻度盘盘面上投影中的高度读数刻度,即为被测目标点的实际高度值。显然,根据使用需要,也可以选定L为其他合适的数值后,进行同样的标定。 

所述高度读数刻度中的起始读数刻度为水平线,最终读数刻度为垂直线。该项设计的技术效果是:一方面给测量红色激光束的光点对准被测目标点时,激光束与水平线之间的夹角提供基准水平线;另一方面,可以方便地将上述依据刻度盘中心与被测目标物底部4种不同间距的4组不同角度的高度读数刻度,分别标定在刻度盘盘面的4个不同象限中,当测量前选定L值后,转动刻度盘盘面,将对应此L值的一组高度读数刻度转到右上角的象限中,然后再进行测量。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于魏蓝天,未经魏蓝天许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120251389.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top