[实用新型]373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统

权利要求书

1.373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，包括大型变温实验箱，加套在所述大型变温实验箱的箱体内部的液氦超低温真空杜瓦瓶；设置在所述液氦超低温真空杜瓦瓶的底部、且伸出大型变温实验箱的箱体底部的杜瓦瓶托架，下部分竖直并行密封设置在所述液氦超低温真空杜瓦瓶的内部、且上部分依次伸出液氦超低温真空杜瓦瓶的顶部及大型变温实验箱的箱体顶部的力学测试实验装置与液氦加注管，靠近所述液氦加注管、均匀设置在所述大型变温实验箱的箱体内壁上的多个加热体，设置在所述大型变温实验箱的箱体后方的风循环装置，以及位于所述大型变温实验箱的外部、且与所述风循环装置轴承连接的风循环电机。

2.根据权利要求1所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，还包括光电联合测量装置；所述光电联合测量装置，位于所述大型变温实验箱的内部、且与所述加电装置及超导材料试样配合设置的光电联合测量装置；在所述大型变温实验箱的箱体内部，与所述风循环装置相配合，还设有温度传感器。

3.根据权利要求1所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，还包括轴承座，所述风循环电机通过轴承座与风循环装置连接。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，所述风循环装置为智能自动调节功率的电机风扇。

5.根据权利要求1所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，在所述液氦超低温真空杜瓦瓶的瓶口，设有密封盖；所述力学测试实验装置与液氦加注管伸出密封盖。

6.根据权利要求1所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，所述力学测试实验装置，包括分别夹持在超导材料试样两端的上夹具与下夹具，配合设置在所述上夹具的上方的上夹具托架，配合设置在所述下夹具的下方的下夹具托架，在所述上夹具托架的上方设有上拉杆，在所述下夹具托架的下方设有下拉杆；

位于所述上夹具托架的上方，自下向上在所述上拉杆上依次设有上加电组件与力学传感器；位于所述下夹具托架的下方，在所述下拉杆上设有下加电组件。

7.根据权利要求6所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，所述上加电组件与下加电组件的结构相同；所述上加电组件包括靠近上夹具托架设置的电加热夹具，以及设在所述电加热夹具上方的绝缘套。

8.根据权利要求1所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，所述光电联合测量装置，包括分别与超导材料试样配合设置的超导材料试样光学测量组件、及超导材料试样电学测量组件。

9.根据权利要求8所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，所述超导材料试样光学测量组件，包括用于为超导材料试样提供低温环境的低温箱；可移动式设在超导材料试样上、且用于标记超导材料试样上任意两点位置的第一黑色吸光靶与第二黑色吸光靶；以及可随所述第一黑色吸光靶与第二黑色吸光靶移动，且用于记录超导材料试样任意两点在低温下拉伸时的相对位移、并计算出超导材料试样的拉伸应变量的光学探测器；在所述低温箱上，设有用于光学探测器的光束透过的玻璃窗。

10.根据权利要求8所述的373-4.2K环境下超导材料的多场耦合测试系统，其特征在于，所述超导材料试样电学测量装置，包括用于提供低温环境与一对曲面刀口的低温引伸计，以及固定套接在超导材料试样两端的一对铜套；所述低温引伸计通过一对曲面刀口，与超导材料试样的一对铜套接触。