[实用新型]一种光纤探头的接口装置有效

专利信息
申请号: 201120257851.6 申请日: 2011-07-21
公开(公告)号: CN202159016U 公开(公告)日: 2012-03-07
发明(设计)人: 谭靖;郭冬发;张彦辉;张良圣 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01N27/62
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅;高爽
地址: 100029 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 探头 接口 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种光纤探头的接口装置,特别是涉及一种用于激光剥蚀光谱与激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪联用的光纤探头的接口装置。

背景技术

LAS技术,即激光剥蚀光谱技术,利用聚焦强激光束激发样品靶面,产生高温等离子体,通过测定等离子体冷却过程中发射光谱的波长和强度来进行元素定性、定量分析。该技术不需要对样品进行繁琐的化学处理,对样品破坏小,具有快速、实时,可远程监测等特点,但对于痕量元素的分析能力不足。ICP-MS分析技术即电感耦合等离子体质谱技术,是一种公认的、强有力的高灵敏度多元素及同位素分析技术,但对固体样品而言,通常是先将其消解,后转入溶液,容易造成样品污染和易挥发组分的丢失;同时,水溶液的存在增加了干扰和氧化物的产生。

针对上述两种分析方法的缺陷,亟需发明一种应用于LAS与LA-ICP-MS联用的光纤探头的接口装置。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种应用于LAS与LA-ICP-MS联用的光纤探头的接口装置。

为解决上述技术问题,本实用新型一种光纤探头的接口装置,包括底座支架,底座支架包括底座和与底座固定的竖直的支撑杆,还包括第一紧固件、第二紧固件、销、光纤探头套筒以及光纤探头支架;第一紧固件与第二紧固件为矩形,在矩形轴向上设有两个与紧固件表面垂直的且彼此垂直的通孔;支撑杆穿过第一锁紧件中一个通孔,并通过第一螺栓与第一紧固件固定;销穿过第一紧固件另一个通孔和第二紧固件的一个通孔,并分别通过第二螺栓和第三螺栓与第一紧固件和第二紧固件固定;光纤探头套筒穿过第二紧固件另一个通孔,并通过第四螺栓与第二紧固件固定;光纤探头套筒一侧安装有中间设有透孔的光纤探头支架,光纤探头固定于光纤探头支架的透孔之中。

还包括共焦指针架和共焦指针,共焦指针架包括彼此平行的支脚,以及与支脚固定的顶部;共焦指针固定于共焦指针架顶部中心位置处,共焦指针架两个支脚以跨于第二紧固件及光纤探头支架两侧的方式与第二紧固件安装,共焦指针与光纤探头共轴。

共焦指针架呈U型。

第二紧固件安装共焦指针架的侧面上设有凸部,当共焦指针架的支脚的下边缘与凸部上边缘紧密接触时,共焦指针与光纤探头共轴。

共焦指针为三节可伸缩的天线结构。

本实用新型可以将LAS与ICP-MS分析技术相结合构成激光剥蚀光谱-激光剥蚀电感耦合等离子体质谱联用技术(LAS-ICP-MS)。该技术充分发挥两种技术的优势,形成实用的互补测试技术:采用激光剥蚀固体样品,减少了样品处理过程的耗时、污染,对样品破坏小,固体进样使干扰和氧化物的产生减少;利用ICP-MS的高灵敏度及多元素分析能力,使检测结果可靠。另一方面,可通过实验LAS-ICP-MS中激光剥蚀产生粒子的响应与相应的激光剥蚀过程中发射光谱信号来研究激光剥蚀过程中的分馏效应;也可用于实验研究不同激光诱导等离子体随时间、空间发展变化及烧蚀产生粒子间的相互作用,从而对激光与物质的相互作用过程机理或仪器的最佳工作参数的获取进行研究,具有良好应用前景。

本实用新型利用底座支架、紧固件将光纤探头固定,可通过调节底座支架,紧固件上的螺栓,对光纤探头实现上下、左右以及角度多维调节;共焦指针一端固定在共焦指针架上,另一端活动,共焦指针可以伸缩,将指针展开,将共焦指针架拨至第二紧固件上的凸部处,可使共焦指针与光纤探头共轴,通过调节共焦指针可以确保光纤探头对准焦平面的激发点,有利于提高光谱信号捕捉灵敏度。该装置设计简单,操作简便,实用。

附图说明

图1为本实用新型所提供的一种光纤探头的接口装置的示意图。

图2为本实用新型所提供的一种光纤探头的接口装置的正视图。

图中:1为底座支架,2为销,3为第一紧固件,4为第二紧固件,5为光纤探头套筒,6为共焦指针架,7为共焦指针,8为凸部,9为光纤探头支架,10为第一螺栓,11为第四螺栓,12为第三螺栓。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的说明。

本实用新型包括底座支架1,底座支架1包括底座和与底座做成一体的竖直的支撑杆。

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