[实用新型]一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器有效
申请号: | 201120271163.5 | 申请日: | 2011-07-27 |
公开(公告)号: | CN202133408U | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 沈常宇;钟川;牟晟;褚金雷;邹新;李可 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01D5/26 | 分类号: | G01D5/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 包层 传输 光纤 光栅 传感器 | ||
技术领域
本实用新型提供了一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器,属于光纤传感技术领域。
背景技术
基于结构简单、抗电磁干扰、适用于远距离及分布式传感等诸多优点,光纤传感器在实际工程中取得了广泛的应用与研究。之前人们对基于长周期光纤光栅的微弯传感器进行了大量的研究,长周期光纤光栅将纤芯模耦合进包层,弯曲长周期光纤光栅可影响纤芯模到包层模的耦合效率,从而实现弯曲传感。通常,先前提出的基于长周期光纤光栅结构的微弯传感器在进行弯曲测量时,往往会受到其他参量的影响,如:温度,应力。而且长周期光纤光栅的模式耦合发生在一个相对较宽的波段,这样就限制了它的复用能力。布拉格光纤光栅进行微弯测量也被进行了一些研究。然而,普通的布拉格光纤光栅中,纤芯模无法耦合进包层,因此在进行弯曲测量,必须通过特殊的工艺,使纤芯模能够耦合进包层,从而与外界媒质相互最用,已经报道的处理方法有:腐蚀、研磨、采用D型光纤光栅。这无疑会加大制造难度而且还会提高损耗。倾斜光纤光栅可将纤芯模耦合进后向传输的包层模,因而可以进行微弯的测量。然后,倾斜光纤光栅偶合进包层的纤芯模具有一个很宽的波段,因而增加了复用以及波长解调方面的难度。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器。该装置能够将待测物体的弯曲量转化为探测信号的波长漂移量,具有结构简单、易于操作、灵敏度高等特点。
本实用新型通过以下技术方案实现:
一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器,由长周期光纤光栅(1)、布拉格光纤光栅(2)、单模光纤(3)、封装套管(4)和连接头(5)组成;长周期光纤光栅(1)之前经单模光纤(3)与连接头(5)相连,长周期光纤光栅(1)之后经单模光纤(3)与布拉格光纤光栅(2)相连,长周期光纤光栅(1)和布拉格光纤光栅(2)均由封装套管(4)保护。
所述的一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器,其特征在于:长周期光纤光栅(1)的周期范围为500~600μm,光栅长度为2~3cm。。
所述的一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器,其特征在于:布拉格光纤光栅(2)的中心波长范围为1535~1545nm,光栅长度为1~2cm。
所述的一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器,其特征在于:单模光纤(3)可采用G.652、G.653、G.655单模光纤。
所述的一种基于包层模传输的光纤光栅微弯传感器,其特征在于:封装套管(4)可采用硅橡胶、环氧树脂或天然橡胶。
本实用新型的工作原理是:光在单模光纤(3)中传输经过长周期光纤光栅(1)时,部分纤芯模被耦合进长周期光纤光栅(1)的包层,包层模与剩余的纤芯模继续沿单模光纤(3)传输,经过布拉格光纤光栅(2),满足布拉格条件的两个不同波长的光将被反射,,反射波长由下式决定:
λcl=2nclΛ,(1)
λco=2ncoΛ,
ncl为包层的有效折射率,nco为纤芯的有效折射率,Λ为光栅周期。不满足布拉格条件的包层模与纤芯模由于散射和吸收而损失。当被反射的包层模经过长周期光纤光栅(1)时,部分会被耦合进单模光纤(3)的纤芯。类似的,被反射回的纤芯模进过长周期光纤光栅(1)时部分也会被耦合进单模光纤(3)的包层,剩余的会通过长周期光纤光栅(1)。因此,反射光谱中将出现分别对应包层模与纤芯模的2个峰。弯曲长周期光纤光栅(1)会导致纤芯模与包层模的耦合效率发生改变,从而会使反射光谱随弯曲程度的改变发生漂移,测量不同弯曲程度下反射峰波长漂移的大小可以实现曲率的测量。
本实用新型的有益效果是:利用长周期光纤光栅(1)对弯曲具有较高的灵敏度这一特性,该装置能够获得高的灵敏度,反射光谱中有对应包层模与纤芯模的2个峰,而且两个反射峰具有相同的温度响应特性,通过测量两个峰的波长间隔,该装置能够实现对温度不敏感。
附图说明
图1是本实用新型包层模传输的光纤光栅微弯传感器示意图
图2是本实用新型的微弯实验示意图
图3是本实用新型的微弯实验光谱变化曲线
图4是本实用新型的灵敏度响应曲线
具体实施方式
下面结合附图及实施实例对本实用新型作进一步描述:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量学院,未经中国计量学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120271163.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种利尿的中药组合物及其制备方法和应用
- 下一篇:一种数控奶瓶