[实用新型]纤维条体测定装置及纱线卷绕机有效
申请号: | 201120290833.8 | 申请日: | 2011-08-09 |
公开(公告)号: | CN202330295U | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 中出一彦 | 申请(专利权)人: | 村田机械株式会社 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01N21/952;B65H63/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纤维 测定 装置 纱线 卷绕 | ||
技术领域
本实用新型主要涉及纤维条体测定装置。详细地说,涉及纤维条体测定装置中、对纤维条体照射光时使光扩散的扩散部件的结构。
背景技术
在对纺织纱线等的纤维条体进行卷绕的装置中,存在具有用于检测纤维条体中所含的异物和该纤维条体的粗度不均的纤维条体测定装置的情况。在此,作为例如检测纺织纱线的粗度不均和异物的混入的结构,一般是下述的光学式的测定装置:通过由LED(Light Emitting Diode)对纺织纱线照射的光的透射光的变化来检测粗度不均,并且,根据照射在纺织纱线上的光的反射光的变化来进行异物检测。作为光量的变化,透射光和反射光的任一个都通过光电二极管等的受光元件而被变换成电信号。
基于反射光的异物检测,利用了光的反射率在纤维条体和异物上不同的原理。例如,若白色的纺织纱线中含有带有颜色的异物,则在该异物的部分反射光减少,因此,能够通过测定该反射光的变化来检测异物。
但是,在纤维条体的表面上存在凹凸的情况并不少见,若对这样的凹凸照射光,则存在由于光源与受光元件之间的位置关系而在纤维条体的表面上产生阴影的情况。在纤维条体的表面上产生阴影,意味着来自纤维条体的表面的反射光的受光量减少了,因此,存在被误检为黑色异物混入了纤维条体中的情况。若检测出异物则进行将该异物的部分切断去除的处理,但阴影的部分实际上并非异物因而无需去除。这样,如果在纤维条体上产生阴影,则将该阴影的部分误检为异物并进行非必要的去除动作,因此,不经济且效率不高。
关于这一点,在日本特表平6-507979号公报及日本特开2005-68569公报中,公开了将光源的光经由扩散板(扩散盘)照射到纤维条体(纱线)上的结构。这样通过扩散板使光源的光扩散然后再对纤维条体进行照射,由此,能够对纤维条体照射来自各个方向的光,因此,即使是在纤维条体的表面上存在凹凸的情况下也能够抑制阴影的产生。这一现象与若对物质进行直接照明则在边缘(边界面)部分产生阴影、但通过变更为间接照明则阴影消失是同一原理。而且,通过如上述那样抑制阴影的产生,能够减少将阴影的部分作为异物误检的次数。
现有技术文献
专利文献1:日本特表平6-507979号公报
专利文献2:日本特开2005-68569公报
实用新型内容
另一方面,基于透射光而实现的纤维条体的粗度不均的检测,利用了透射光的受光量与该纤维条体的粗度的变化相应地变化的现象。即,若纤维条体变粗,则该纤维条体对光进行遮挡的面积变大,因此,透射光的受光量减少。因此,通过对来自移动的纤维条体的透射光量的变化进行监视,能够检测该纤维条体的移动方向上的粗度的变动、即粗度不均。
不过,本申请的发明人发现,在如日本特表平6-507979号公报及日本特开2005-68569公报那样的利用扩散板使光扩散的结构的纤维条体测定装置中,存在着与不使光扩散的情况相比、纤维条体的粗度不均的检测灵敏度下降的问题。此外,这样的问题在日本特表平6-507979号公报及日本特开2005-68569公报中未被指出。本申请发明人对这一点进行锐意研究的结果,确定了以下事实:纤维条体的粗度不均的检测灵敏度下降的原因在于:由于光的扩散,受光元件进行受光的透射光被平均化。
即,如图8所示,在通过扩散板138使光源136的光扩散并照 射到纤维条体100上的情况下,对透射光进行受光的受光元件137会将从各个方向透过纤维条体100而来的透射光受光。因此,受光元件137所输出的电信号,是对来自各个方向的透射光的强度进行了平均化而得到的。若透射光被这样平均化,则无法细微地检测出纤维条体100的粗度变动,其结果是,粗度不均的检测灵敏度下降。
本实用新型是鉴于上述情况而做出的,其主要目的在于提供一种纤维条体测定装置,当对纤维条体中所含的异物进行检测时,能够抑制阴影的产生从而使异物检测灵敏度提高,并且,能够良好地检测纤维条体的粗度不均。
本实用新型所要解决的课题如上所述,下面,对用于解决该课题的手段及其效果进行说明。
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