[实用新型]光学膜片光学性能测试台

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于检测光学膜片的光学性能的装置。

背景技术

目前，随着光纤通讯技术的不断发展和普及使用，其中WDM（波分复用）技术相关的器件设备及其核心膜片（芯片）已经开始大量进入光纤敷设的骨干网络和城域网络，WDM膜片的生产使用量越来越大，生产企业对高效、准确的测试WDM膜片光学性能提出了迫切要求。一般测试WDM反射光谱使用双光纤准直器，一光纤作为入射光，另一光纤接收反射光。由于使用双光纤，不能保证反射光完全沿入射光路返回，所以测试的反射光谱曲线不够准确；另外，在WDM膜片反射光谱测试中，需要保证WDM膜片下表面与入射光路径尽量垂直，越接近90度，反射光谱的测试结果越准确，由于双光纤不容易保证垂直，所以测试反射光谱曲线重复性不好，测试结果不够准确。

实用新型内容

本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足而提供一种能保证反射光完全沿入射光路返回，容易保证垂直，重复性更好、测试的光学曲线更准确的光学膜片光学性能测试台。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现： 

光学膜片光学性能测试台，包括膜片载物台，膜片载物台上设有可放置待测膜片的小孔，在所述的膜片载物台的下方设有对准小孔的单光纤准直器，单光纤准直器的下方设有耦合器，耦合器的下部接有光源和光谱测试分析设备。

所述的单光纤准直器装设在准直器调节架上。

由于采用了上述的结构，使用时WDM膜片放置在小孔上，光从光源发出，通过光纤，进入耦合器，再从耦合器发出，进入单光纤准直器，从单光纤准直器发出，通过膜片载物台上的小孔，入射到WDM膜片的下表面，产生反射光；反射光沿入射光路返回，入射到单光纤准直器，从单光纤准直器出来进入耦合器，耦合器接收到的反射光接入光谱测试分析设备，即可对膜片进行反射光谱分析。

本实用新型具有下述的有益效果：

（1）通过把双光纤准直器更改为单光纤准直器，入射光和反射光均通过同一光纤，保证了反射光完全沿入射光路返回，所以测试的反射光谱曲线更准确；

（2）在WDM膜片反射光谱测试中，需要保证WDM膜片下表面与入射光路径尽量垂直，越接近90度，反射光谱的测试结果越准确；本发明中通过把双光纤改为单光纤，在调节保证入射光路与WDM膜片下表面垂直的过程中，更容易保证垂直，所以测试反射光谱曲线重复性更好。

附图说明

利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图１是光学膜片光学性能测试台的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的描述。

如图1所示，本实用新型所述的光学膜片光学性能测试台，包括膜片载物台1，膜片载物台1上设有可放置待测膜片的小孔2，在所述的膜片载物台1的下方设有对准小孔2的单光纤准直器3，所述的单光纤准直器3装设在准直器调节架7上，准直器调节架7可为三维调节架，用以调节单光纤准直器3的位置。所述的单光纤准直器3的下方设有耦合器4，耦合器4用于分离入射光和反射光。耦合器4的下部接有光源5和光谱测试分析设备6。

本实用新型使用时，WDM膜片放置在小孔2上，光从光源5发出，通过光纤，进入耦合器4，再从耦合器2发出，进入单光纤准直器3，从单光纤准直器3发出，通过膜片载物台1上的小孔2，入射到WDM膜片的下表面，产生反射光；反射光沿入射光路返回，入射到单光纤准直器3，从单光纤准直器3出来进入耦合器4，耦合器4接收到的反射光接入光谱测试分析设备6，即可对膜片进行反射光谱分析。

总之，本实用新型虽然例举了上述优选实施方式，但是应该说明，虽然本领域的技术人员可以进行各种变化和改型，除非这样的变化和改型偏离了本实用新型的范围，否则都应该包括在本实用新型的保护范围内。