[实用新型]一种PCB板真空检测治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测治具，特别涉及一种PCB板真空检测治具。

背景技术

电子线路集成板(PCB板)在生产过程中需要经历很多的环节，每一环节都需要有相应的测试仪器来检测产品的好坏。治具是一个提供PCB板测试的平台，利用探针将待测PCB板上的测点与测试机中的对应点导通，通过调用测试机中对应的程序来实现最终的测试。随着PCB板功能的增强，测点越来越多，在测试机未进行更换的情况下，现行的短线治具无法对测点较多的PCB板进行量测。

如图1所示的短线治具，包括铝框12、下载板14、下针板15、下针板加强板16、探针17、P-pin19及连接线，下载板14与下针板15之间的边缘处设置有海绵垫11并在下载板14、下针板15及海绵垫11之间形成空腔，下针板加强板16与下针板15连接，探针17依次穿过并固定于下针板加强板16、下针板15及下载板14，P-pin19固定在下针板加强板16上并与探针17平行，探针17与P-pin19之间连接有短连接线18，铝框12的一端与下针板15连接，另一端连接有蜂巢板20，蜂巢板20上开设有用于容纳P-pin 19的呈漏斗型的凹槽，铝框12内开设有与空腔贯通的真空抽气孔13。该短线治具是利用探针17把PCB板上的测试点连接到治具的P-pin19上，再由P-pin19与测试机Interface上的min pin接触导通进行测试。

该短线治具的优点是探针17和P-pin19之间的绕线可以做到尽量短，这样在测试的过程中对测试造成的干扰就会比较小。但是，短线治具也存在一些缺陷，由于治具的探针17和P-pin 19分布在同一片针板上面，探针17的分布就会影响到P-pin 19的选择，也就容易造成机种上的很多资源不能得到合理利用。在早期，由于PCB板的测试点不多，且分布比较分散，对整个治具的选点上来说，基本上不会存在太多的干涉和资源不足。但是，现在随着PCB板的复杂程度越来越高，对应测试的网络数也就越来越多，在PCB板上面layout的测试点也越来越多，且分布也越来越密，在治具的制作中，就出现了测试点和P-pin 19之间存在大量的干涉，同时也造成了PCB板测试点很多的情况下，在选点的时候出现资源不够的问题，导致PCB板上的一些测试项目不能完全测试，这也违背了做治具测试PCB板的目的。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种PCB板真空检测治具，以避免探针与P-pin之间相互干涉而影响测试点的正常测试。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种PCB板真空检测治具，包括铝框、下载板、下针板、下针板加强板、探针及连接线，所述下载板与所述下针板之间的边缘处设置有海绵垫并在所述下载板、下针板及海绵垫之间形成空腔，所述下针板加强板与所述下针板连接，所述探针依次穿过并固定于所述下针板加强板、下针板及下载板，所述铝框的一端与所述下针板连接，所述铝框内开设有与所述空腔贯通的真空抽气孔，所述铝框一端通过铰链与所述下针板连接，所述铝框的另一端设置有与其垂直的界面板，所述界面板与所述下针板相对应，所述界面板上设置有界面针，所述界面针通过长连接线与所述探针连通。

优选的，所述下针板上设置有与所述空腔贯通的气孔A。

优选的，所述铝框上设置有与所述真空抽气孔贯通的气孔B。

优选的，所述气孔A与所述气孔B通过真空管连通。

通过上述技术方案，本实用新型提供的真空检测治具，其相比现有的短线真空治具具有如下优点：

①由于界面板上的界面针与测试机Interface上的min pin数量一样多，可充分利用测试机的资源；

②探针与界面针分别固定在下针板和界面板上，它们不会有相互干涉的情况发生，探针的数量可达到与界面针的数量一致，也就是说，待测点的数量可与测试机Interface上的min pin数量一样多，解决了PCB板选点资源不够的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为现有技术的一种短线治具的局部结构示意图；

图2为本实用新型实施例所公开的一种PCB板真空检测治具闭合状态下的局部结构示意图；

图3为图2中所示的治具掀开状态下的局部结构示意图；

图4为图2中探针的放大示意图。

图中：