[实用新型]一种磁芯结构有效
申请号: | 201120313018.9 | 申请日: | 2011-08-25 |
公开(公告)号: | CN202258624U | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 李前军;蔡中德 | 申请(专利权)人: | 天长市中德电子有限公司 |
主分类号: | H01F3/00 | 分类号: | H01F3/00;H01F27/24;H01F41/02 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 陈丽燕 |
地址: | 239300*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及磁芯技术领域,尤其涉及一种磁芯结构。
背景技术
参照附图,图1至图3分别为现有技术中一种磁芯结构的主视图、俯视图和左视图,包括磁芯本体1。参照附图,该磁芯本体1的宽度尺寸Y沿高度方向Z保持上下一致,即在磁芯本体1的正面与顶面、背面与顶面之间为直角过渡,磁芯本体1的宽度尺寸上下保持同一尺寸。基于上述磁芯的结构设计,在磁芯的操作加工、放置及运输过程中,磁芯与磁芯之间常出现相互挤压和碰撞现象,易导致磁芯的顶端磨面出现掉块,使得磁芯报废,从而降低了产品的合格率。
实用新型内容
针对以上缺陷,本实用新型提出了一种磁芯结构,通过对磁芯的结构进行改进,避免了因磁芯相互挤压碰撞而导致磁芯顶端磨面的掉块现象,并保证了磁芯电磁特性的稳定性。
为实现上述目的,本实用新型通过以下技术方案实现:
一种磁芯结构,包括磁芯本体,在磁芯本体的正面与顶面、背面与顶面的过渡处设置倒角,其中,正面和背面为磁芯本体的长度方向X和高度方向Z所在的平面,顶面为磁芯本体的长度方向X和宽度方向Y所在的顶面。
优选的,倒角在高度方向Z的尺寸大于其在宽度方向Y的尺寸。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
在本实用新型中,通过对磁芯的结构进行改进,在磁芯本体的正面与顶面、背面与顶面的过渡处设置倒角,在磁芯的操作加工、放置及运输过程中,磁芯的顶端磨面不接触,避免了因磁芯相互挤压碰撞而导致磁芯顶端磨面的掉块现象,提高了产品的合格率,并保证了磁芯电磁特性的稳定性。
附图说明
下面根据实施例和附图对本实用新型作进一步详细说明。
图1为现有技术中一种磁芯结构的主视图。
图2为现有技术中一种磁芯结构的俯视图。
图3为现有技术中一种磁芯结构的左视图。
图4为本实用新型提出的一种磁芯结构的主视图。
图5为本实用新型提出的一种磁芯结构的俯视图。
图6为本实用新型提出的一种磁芯结构的左视图。
具体实施方式
参照附图,图4至图6分别为本实用新型提出的一种磁芯结构的主视图、俯视图和左视图。为了便于描述,设置三维垂直坐标系XYZ,其中,X所在方向为磁芯的长度方向,Y所在方向为磁芯的宽度方向,Z所在的方向为磁芯的高度方向。如图4至图6所示,Y方向垂直于纸面。
本实用新型提出的一种磁芯结构,包括磁芯本体1,在磁芯本体1的正面与顶面、背面与顶面的过渡处设置倒角2,其中,正面和背面为磁芯本体的长度方向X和高度方向Z所在的平面,顶面为磁芯本体的长度方向X和宽度方向Y所在的顶面。倒角2在高度方向Z的尺寸大于其在宽度方向Y的尺寸,图中,倒角2在高度方向Z的尺寸为5mm,在宽度方向Y的尺寸为0.2mm。
在本实用新型中,通过对磁芯的结构进行改进,在磁芯本体的正面与顶面、背面与顶面的过渡处设置倒角,在磁芯的操作加工、放置及运输过程中,磁芯的顶端磨面不接触,避免了因磁芯相互挤压碰撞而导致磁芯顶端磨面的掉块现象,提高了产品的合格率;另一方面,磁性在宽度方向Y的尺寸依然控制在中值附近,对产品的有效使用面积就不会产生影响,从而保证产品的电磁特性的稳定。
上面结合附图对本实用新型进行了示例性的描述,显然本实用新型的实现并不受上述方式的限制,只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种改进,或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本实用新型的保护范围内。
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