[实用新型]LED光衰测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于光测试装置，具体是一种LED光衰测试装置。

背景技术

LED光衰测试装置主要在测量LED光通量、光照度、光亮度及LED寿命时，用于夹持LED并给LED供电、通讯测试仪器的一个装置，再通过光电探测器将被测光信号送入分光仪器或二次仪表，得到光学参数并且通过装置的通讯端口，测试LED寿命。但现有的测试装置在测量的过程中由于测试效率低、测量精度差，达不到测试要求。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题和提出的技术任务是克服现有测试设备测试效率低、测量精度差的缺陷，提供一种LED光衰测试装置。

为达到上述目的，本实用新型的LED光衰测试装置包括散热块、供电模块、夹持机构、测试平台，其特征是：所述的供电模块设于所述的散热块内并带通讯接口，所述的通讯接口设在所述的散热块上便于连接的部位，所述的测试平台通过导热硅胶固定在所述的散热块上，所述的测试平台上设有定位板，所述的定位板上沿其长度方向开设一行安置孔，所述的夹持机构包括两个分别位于所述一行安置孔两侧的可靠拢和远离所述安置孔的夹持件，每个所述的夹持件上对应每个安置孔设有从所述供电模块获得电力的触片且对应同一安置孔的两个触片组成一对并位于同一供电回路中。

作为优选技术措施，所述的两个夹持件上设有用于控制其靠拢和远离所述安置孔的把手。

作为优选技术措施，所述的两个夹持件之间连接有弹簧。

作为优选技术措施，所述的各对触片通过导线单独连接所述供电模块的通讯接口。

作为优选技术措施，本实用新型的LED光衰测试装置还包括一组数量与所述的安置孔相同的遮光筒和一组数量与所述的安置孔相同的光度探头，所述的光度探头一一安装在所述的遮光筒上，所述的遮光筒设在一可安置在测试平台上的支架上并与所述的安置孔一一对应。进一步的：所述的遮光筒内壁分布均匀螺纹；所述的夹持机构、测试平台位于所述散热块的上方，所述的遮光筒呈直立状布置；所述的支架上设有定位销。

作为优选技术措施，所述散热块的底部设有底脚。

作为优选技术措施，整个装置的外观颜色为亚光黑色。

本实用新型的有益效果是：宽大型散热块能保证在测试多颗LED时，温度不会过高，保证测量结果；多路的设计结构能同时检测多颗LED，大大缩短测试时间，提高测试效率；可拆卸更换的测试机构，能对多种类型的LED进行测试；能够有效简单的配合测试仪器对LED寿命和光强进行检测；带有消光螺纹的遮光筒，有效的避免了因为杂光和外界光对检测参数的影响。

附图说明

图1是本实用新型的一种结构示意图；

图2是测试平台与散热块涂相结合的截面示意图；

图3是两个夹持件之间连接有弹簧的示意图；

图4是将被测试的LED放置于定位板上的示意图；

图5是用触片夹持被测试的LED的示意图；

图6是支架上布设遮光筒的示意图；

图中标号说明：1-散热块，2-测试平台，3-通讯接口，4-导热硅胶，5-定位板，6-安置孔，7-夹持件，8-触片，9-把手，10-弹簧，11-遮光筒，12-光度探头，13-支架，14-定位销，15-底脚，16-LED。

具体实施方式

以下结合说明书附图对本实用新型做进一步说明。

本实用新型的LED光衰测试装置，如图1所示，其包括散热块1、供电模块、夹持机构、测试平台2，供电模块设于散热块1内并带通讯接口3（供电模块内部供电及通讯线用高温导线制成，有效防止高温对线路的损害，当仪器发送指令时，测试装置将检测到的数据通过通讯接口反馈到仪器进行寿命分析），通讯接口3设在散热块1上便于连接的部位（如露在散热块的侧面），测试平台2通过导热硅胶4固定在散热块上（参见图2，为了增加散热效果，散热块与测试平台通过平面连接以增加导热面积，而在平面下方设置散热翼片，测试LED时，测试平台和散热块之间的导热硅胶能够有效传导热量，通过散热块将热量散出），测试平台2上设有定位5，定位板5上沿其长度方向开设一行安置孔6（参见图4，图示为10个，即可同时安置10颗LED进行测试，通过更换定位板来放置不同类型的LED），夹持机构包括两个分别位于呈一行的安置孔两侧的可靠拢和远离安置孔的夹持件7，每个夹持件7上对应每个安置孔设有从供电模块获得电力的触片8且对应同一安置孔的两个触片组成一对并位于同一供电回路中用于对安置在对应安置孔内的LED供电（测试LED时，给LED供电同时保证LED不会出现移动）。