[实用新型]三向雷射测距装置有效
申请号: | 201120322949.5 | 申请日: | 2011-08-31 |
公开(公告)号: | CN202256673U | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 陈启宏 | 申请(专利权)人: | 陈启宏 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01B11/02 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 朱丽华 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 雷射 测距 装置 | ||
1.一种三向雷射测距装置,供适用于量测箱体,该箱体放置于具有可抵靠的工作区,其特征在于该三向雷射测距装置包含:
一本体;
一雷射装置,具有三组感应组件,该雷射装置设于该本体,各该感应组件可沿各自感应方向发射一道光束,各该感应组件于各该光束接触到工作区反射后而接收到光束,各该感应组件产生一个距离讯号;
一微处理单元,连接于该雷射装置,该微处理单元接收各该距离讯号,该微处理单元依各该距离讯号计算获得该箱体的体积与材积;
一显示屏幕,连接于该微处理单元,该显示屏幕是供微处理单元控制显示箱体的体积与材积。
2.根据权利要求1所述的三向雷射测距装置,其特征在于:更包含有一操作介面,该操作介面设于该本体上,并连接于该微理处单元,该操作介面可操控该微处理单元。
3.根据权利要求1所述的三向雷射测距装置,其特征在于:该本体形成有用以定位于箱体的一内定位角与一外定位角。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的三向雷射测距装置,其特征在于:该微处理单元依该操作介面控制选择以该内定位角或该外内位角来测量箱体,该微处理单元设定有该内定位角与该外定位角的参数值,该微处理单元于计算箱体的体积与材积时加入该内定位角或该外定位角的参数值而获得箱体的实际体积与材积。
5. 根据权利要求1所述的三向雷射测距装置,其特征在于:该微处理单元依各该距离讯号计算获得的数据于该显示屏幕显示一体积标示与一材积标示。
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