[实用新型]粉体堆积层角度测定装置有效

专利信息
申请号: 201120336437.4 申请日: 2011-08-30
公开(公告)号: CN202229738U 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 笹边修司;清水健司;藤见利幸;生田刚 申请(专利权)人: 细川密克朗集团股份有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01N13/00
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威;孙丽梅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 堆积 角度 测定 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种粉体堆积层角度测定装置。

背景技术

粉体的物性值,以休止角、崩溃角、刮铲角、松密度/振实密度、压缩度、凝聚度、分散度、差角等各种参数来测定。关于对休止角、刮铲角等粉体堆积层的角度进行测定的装置,可以在专利文献1、2中了解到其示例。

专利文献1所记载的装置具备:测定单元,其用于对休止角、崩溃角、松密度/振实密度、压缩度、刮铲角、凝聚度、分散度、差角等粉体的物性中的至少1种进行测定;控制单元,其实施利用测定单元进行测定时所需要的控制和运算处理。测定单元包含角度测定夹具,所述角度测定夹具通过脉冲电机而对角度测定臂进行旋转驱动,以使角度测定臂与堆积的试样粉体的倾斜面平行。控制单元通过驱动脉冲而对脉冲电机进行驱动控制,并通过驱动脉冲数的计数而进行角度测定臂的角度计算。

专利文献2所记载的装置在底座上具备摄像头。当进行休止角测定时,在摄像头的前方以背对背光面板的形式而放置休止角测量台。当进行刮铲角测定时,在摄像头的前方以背对背光面板的形式放置刮铲。当用摄像头进行拍摄时,能够得到休止角测量台上的粉体堆积层的轮廓图像、或刮铲上的粉体堆积层的轮廓图像。用计算机对该图像进行分析,以求取粉体堆积层的倾斜角度。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利第2798827号公报

专利文献2:日本专利第4155942号公报

实用新型内容

实用新型要解决的课题

如专利文献2所记载的装置,在通过图像分析技术来求取粉体堆积层的角度时,经常会发生从装置外射入的光成为干扰因素而妨碍图像的分析、或者使分析精度降低的情况。但是,通常情况下使用这种装置的环境被设定为照明较明亮,从而难以遮挡外界的光线。

本实用新型是鉴于上述课题点而完成的,其目的在于,提供一种能够在不受外界光线的影响的条件下进行准确的角度测定的粉体堆积层的角度测定装置。

用于解决课题的方法

本实用新型的粉体堆积层角度测定装置具备:摄像头;背光面板,其被配置在与所述摄像头相向的位置处;粉体堆积层支承装置,其被配置在所述摄像头和所述背光面板之间;图像分析装置,其对所述摄像头拍摄的、所述粉体堆积层的轮廓图像进行分析,从而求取所述粉体堆积层的角度,所述背光面板是在450nm~550nm的范围内具有发射光谱的峰值的光源,在所述摄像头上组合有,对所述背光面板的发射光谱的峰值具有高透射率的滤光器。

在本实用新型的粉体堆积层角度测定装置中,优选为,所述背光面板在460nm~480nm的范围内具有发射光谱的峰值的光源。

在本实用新型的粉体堆积层角度测定装置中,优选为,所述背光面板具备:光传播板与发光二极管的组合,其中,所述光传播板具有导光功能和光漫射功能;所述发光二极管向所述光传播板的端面照射光。

在本实用新型的粉体堆积层角度测定装置中,优选为,所述光传播板通过组合导光板和漫射板而构成。

在本实用新型的粉体堆积层角度测定装置中,优选为,所述滤光器为,对于所述背光面板的峰值波长,最大透射率为30%以上的带通滤光器。

在本实用新型的粉体堆积层角度测定装置中,优选为,设置有遮盖所述摄像头和粉体堆积层支承装置的开闭自如的盖,并在所述盖上安装有所述背光面板。

实用新型的效果

根据本实用新型,由于使背光面板以预定的波长范围而发光,并在摄像头上组合有对于背光面板的发光波长范围具有高透射率的滤光器,因此除了背光面板发射的光之外的光,基本上不会成为向摄像头的入射光。因此,粉体堆积层的轮廓图像仅通过来自背光面板的光而形成,从而能够得到具有准确形状的轮廓图像。利用图像分析装置进行的轮廓图像的分析也将成为准确的分析,从而角度测定精度将提高。

附图说明

图1为粉体堆积层角度测定装置的概要主视图。

图2为粉体堆积层角度测定装置的概要侧视图。

图3为背光面板的概要截面图,且为从侧面观察时的图。

图4为背光面板的概要截面图,且为从正面观察时的图。

图5为背光面板所使用的LED阵列的俯视图。

图6为图像处理的概念的说明图。

图7为粉体堆积层角度测定装置的结构框图。

图8为用于对休止角测定进行说明的概要剖视图。

图9为用于对刮铲角测定进行说明的概要剖视图。

符号说明

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