[实用新型]双缝干涉实验演示装置有效

专利信息
申请号: 201120339988.6 申请日: 2011-09-05
公开(公告)号: CN202183194U 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 许富洋;潘日敏;彭保进 申请(专利权)人: 浙江师范大学
主分类号: G09B23/22 分类号: G09B23/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 321004 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 干涉 实验 演示 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种双缝干涉实验演示装置,具体地说是一种适用于理工科高校及各中学的双缝干涉实验演示装置。

背景技术

双缝干涉是物理当中的一个重要知识点,其光强分布规律及双缝间距与干涉条纹间距关系的探讨更是一个重点和难点,双缝干涉相关实验也是理工科高校比较基础的物理实验。在双缝干涉实验演示方面,目前多数以定性观察为主,即以激光为光源,直接照射双缝装置,然后采用人眼在观察屏上观察的方式,其缺点在于难以进行定量的演示与比较;另外也有采用光电传感器,并结合计算机或监视器来进行双缝干涉演示的,但其通常对整个光路部分的器件进行了封装或要求在暗室环境下进行,直观性较差,不易于在课堂教学中推广。

发明内容

针对以上问题,本实用新型的目的是提供一种可适用明室环境、操作简便的双缝干涉实验演示装置。

为实现上述目的,本实用新型采用一种双缝干涉实验演示装置包括微型计算机、CMOS图像传感器、半透半反镜、双缝屏、偏振片组、激光笔、图像传感器套筒,图像传感器套筒内一端设置CMOS图像传感器,另一端为半透半反镜,激光笔、偏振片组、双缝屏、半透半反镜、CMOS图像传感器依次共轴设置,CMOS图像传感器与微型计算机连接。

本实用新型因将CMOS图像传感器与半透半反镜通过图像传感器套筒连接成一体,达到了可明室环境演示的状态。

本实用新型进一步设置为双缝屏上的三套双缝间距分别为0.4mm,0.8mm,1.2mm。对双缝屏进行了匹配设计,使双缝屏上的三套双缝间距分别为0.4mm,0.8mm,1.2mm,可实现双缝间距与干涉条纹间距反比关系的演示。

实验时,只需将CMOS图像传感器、半透半反镜、双缝屏、偏振片组、激光笔调节至共轴,并适当调节相互之间的距离,双缝干涉图像则通过CMOS图像传感器由微型计算机获取,计算机观测界面便可实时显示双缝干涉图像及光强分布曲线,简单便捷、省时省事。

本实用新型适用于理工科高校及各中学的双缝干涉相关实验,功能完善,性价比高。

附图说明

图1是本实用新型实施例的剖视图。

图2是本实用新型实施例双缝屏主视图。

具体实施方式

如图1、图2所示,本实用新型的具体实施例是一种适用于明室环境的双缝干涉实验演示装置,包括微型计算机8、CMOS图像传感器6、半透半反镜4、双缝屏3、偏振片组2、激光笔1、图像传感器套筒5,双缝屏3上的三套双缝间距分别为0.4mm,0.8mm,1.2mm,图像传感器套筒5内一端设置CMOS图像传感器6,CMOS图像传感器6一端含有USB连接线7,用于与微型计算机8连接,图像传感器套筒5另一端为半透半反镜4,激光笔1、偏振片组2、双缝屏3、半透半反镜4、CMOS图像传感器6依次共轴设置。

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