[实用新型]一种照明器件加速寿命和加速退化复用试验装置

说明书

一、技术领域

本实用新型涉及一种加速试验装置，具体涉及一种照明器件加速寿命和加速退化复用试验装置。属于产品测试技术领域。

二、背景技术

目前，照明器件寿命是灯质量的关键指标，需要进行相关参数的测试，以及使用寿命的检验。以往此项工作主要靠产品的实际使用过程来大约的估算，极不准确，并且与真实的使用环境差别较大，可靠性和寿命的检测准确性低。

加速寿命试验是在既不改变产品的失效机理、不增加新的失效因子的前提下，提高试验应力，加速产品失效进程的一种试验方法。根据加速寿命试验的结果，可以预测产品在正常应力下的寿命特征。以电压为应力作恒定应力加速寿命试验时，经常采用逆幂律作为寿命与电压关系的模型，不但可使长寿型照明器件的寿命检验变为可能，对普通照明器件的寿命试验也可加快，大大节约人力物力，降低检定成本和企业负担，提高效率。

公开号为CN102129048A的中国发明专利申请，设计了一种照明器件自动寿命试验装置，一种通用型照明器件加速寿命和加速退化复用试验装置，该设计用于对照明器件进行寿命测试，但未使用加速寿命试验技术，试验时间长，成本高，并且没有对照明器件性能进行实时的数据采集，仅获得照明器件的寿命数据。公开号为CN201859199U的中国发明专利申请，设计了一种LED芯片加速寿命试验装置，该设计对芯片进行以温度为加速应力的加速寿命试验，需要终止试验再通过其他设备和方法对受试芯片进行性能测试。在一般的多通道实验装置中，对受试多采用简单的并联结构，但某一通道的产品状态，会对其他通道的供电状态产生影响。为解决以上诸问题，所以本实用新型提出了一种可实时对照明器件进行性能测试和数据采集的加速寿命和加速退化复用试验装置，设计了多路独立恒流控制结构，从而使每个测试件的应力条件互不影响。

三、实用新型内容

1、目的：本实用新型的目的是提供一种照明器件加速寿命和加速退化复用试验装置，该装置可对照明器件实时进行数据测试和采集，支持定时、定数、序贯等多种试验方案。

2、技术方案

本实用新型的技术方案是：见图1，本实用新型一种照明器件加速寿命和加速退化复用试验装置，包括试验箱、数据采集卡和计算机。它们之间的位置连接关系及信号走向是：通过计算机控制界面对试验进行设置；数据采集卡接受计算机传来的控制信号，将其转换成数字和模拟信号送入试验箱，并采集试验箱中的实时数据，送入计算机，通过Labview开发的控制程序进行图像化显示和存储。

(1)首先通过计算机控制界面对试验进行设置。在程序界面可以对受试产品的应力施加时间和应力施加值以及数据采集点进行设置。不同的应力施加方式决定于定时、定数或序贯等不同试验方案，灵活的试验制定使其适用于多种加速寿命试验和加速退化试验环境。数据采集卡与计算机之间为USB接口通信，简易便捷。

(2)数据采集卡接受计算机传来的控制信号，将其转换成数字和模拟信号送入试验箱，并采集试验箱中的实时数据，送入计算机，通过Labview开发的控制程序进行图像化显示和存储。

(3)在一般的多通道实验装置中，对受试多采用简单的并联结构，但某一通道的产品状态，会对其他通道的供电状态产生影响，为解决此问题，本实用新型设计了多路独立恒流控制结构，从而使每个测试件的应力条件互不影响。本实用新型选用的NI6521数据采集卡可输出4路模型信号量和16路数字信号量输入16路模拟信号量。这里设计为可容纳16个照明器件为受试产品，最多将其分为4组进行应力施加控制，并通过16路数字量来控制16个受试产品的数据采样点。

(4)试验箱接收来自数据卡的4路模拟型号后，通过信号控制板上的信号处理电路，将其分为16路信号，并进行功率放大，送入装有照明器件底座的电路板中，施加在受试产品和限流电阻两端。同时根据数据卡送入的16路数字信号，经驱动芯片提高其驱动能力，通过继电器选择控制信号采集点，经过信号衰减后送出16路模拟信号给数据采集卡。以上所提到的信号处理和衰减电路选用集成运算放大器芯片OP27，LM741，驱动芯片选用ULN2003，选择控制电路选用的继电器为欧姆龙GV-5V，5V电源芯片选用LM2576。

(5)数据卡采集到的信号，为施加给试验箱里的照明器件和限流电阻的电压值或受试产品上分得的电压值，可通过计算机进行切换控制；试验箱用以安装产品，并对照明器件施加电压可控的工作应力。