[实用新型]多路扫描测试控制装置

说明书

技术领域

 本实用新型涉及一种多路扫描测试控制装置，用于压敏、PTC、NTC、瓷介电容等芯片的电性能测试分技术领域。

背景技术

现有测试元件是接一组探针，且对每个元件测试，但是每次只测一个元件。每测试完成一次元件后，测试探针需要运动一次，接着在对下一个元件进行测试，导致测试元件速度比较慢。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种多路扫描测试控制装置。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

多路扫描测试控制装置，包括电阻测试仪装置、RS232通讯装置以及多路测试探针装置，所述RS232通讯装置的输出端与电阻测试仪装置的输入端相连，其特征在于：所述多路测试探针装置的各测试探针中的一端相互连接，所述各测试探针相互连接的一端与电阻测试仪装置的输出端相连，所述各测试探针的另一输入端与多路继电器输出装置的输出端相连，所述多路测试探针装置的输出端与测试元件相连，所述电阻测试仪装置的输出端与多路继电器输出装置的输入端相连，所述多路继电器输出装置的输入端与多路数字量I/O装置的输出端相连。

进一步地，上述的多路扫描测试控制装置，其中，多路数字量I/O装置和RS232通讯装置的输入端与电源相连。

本实用新型技术方案的实质性特点和进步主要体现在：

本实用新型通过在电阻测试仪装置和多路测试探针装置之间连接有多路继电器输出装置，使其测试元件的速度得到较快的提高，且保证了测试元件的精确性。

附图说明

图1：本实用新型的连接示意图。

具体实施方式

如图1所示，多路扫描测试控制装置，包括电阻测试仪装置3、RS232通讯装置2，以及多路测试探针装置5， RS232通讯装置2的输出端与电阻测试仪装置3的输入端相连，多路测试探针装置5的各测试探针中的一端相互连接，各测试探针相互连接的一端与电阻测试仪装置3的输出端相连，各测试探针的另一输入端与多路继电器输出装置4的输出端相连，多路测试探针装置5的输出端与测试元件6相连，电阻测试仪装置3的输出端与多路继电器输出装置4的输入端相连，多路继电器输出装置4的输入端与多路数字量I/O装置1的输出端相连。

其中多路数字量I/O装置1和RS232通讯装置2的输入端与电源相连。

其中装置上安装有另一相同的多路扫描测试控制装置，此装置能保证在测试完第一次后，利用相同的装置再次对测试元件6进行测试，保证测试得出的数据更加精确。

具体应用时，装置启动后，首先RS232通讯装置2通过电阻测试仪装置3使得多路测试探针装置5下降与测试元件6相接触，相接触后多路测试探针装置5停止，此时多路数字量I/O装置1启动，多路数字量I/O装置1控制多路继电器输出装置4开启，致使多路测试探针装置5的一测试探针与测试元件6中的一元件相通，再通过多路继电器输出装置4和电阻测试仪装置3将元件的大小测试出来，接着通过程序关断多路继电器输出装置4开通的通路，然后再通过程序再开启另一多路继电器输出装置4与其对应的元件通路并测得元件数值的大小，直至元件测试完成。其中测得元件的大小保存至电阻测试装置3中，再与其相同装置再一次测试后通过软件对比，保证测得的元件数值更加精确。

综上所述，通过安装在电阻测试仪装置和多路测试探针装置之间的多路继电器输出装置，控制多路继电器输出装置中与多路测试探针装置相通和关闭，提高了测试元件的速度，并且提高了生产效率。

需要强调的是：以上仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。