[实用新型]六氟化硫的气体水分测量系统有效

专利信息
申请号: 201120365648.0 申请日: 2011-09-28
公开(公告)号: CN202393700U 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 徐林 申请(专利权)人: 徐林
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 六氟化硫 气体 水分 测量 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及电力行业的现场测试技术领域,尤其涉及一种六氟化硫(SF6)的气体水分测量系统。

背景技术

目前,SF6因其很高的介电强度和良好的灭电弧性能,在电力行业被广泛用作高压开关、大容量变压器、高压电缆和气体的绝缘材料。随着电力行业的迅猛发展,电力行业大量设备的投入,尤其是SF6电气设备的不断增加,对SF6电气设备的安装调试以及检修维护的要求越来越高,特别是对SF6电气设备中气体水分的测试要求更是日趋严格。

现有技术中针对SF6的气体水分测量通常是采用基于阻容法原理的传感器来实现,根据输出的电压值计算出对应的微水值。这种类型的设备需要将传感器置入被测带压的气体中,然而由于现在各种传感器都是要求在常压下使用的,如果置于带压的气体中使用便有悖于传感器设计时的使用要求,从而会导致该设备测量的数值与实际数值偏差很大,即使添加上压力补偿也与实际数值偏差较大。除此之外,这种类型的设备所用的传感器本身就存在测量精度不高、重现性差等缺点。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种SF6的气体水分测量系统,以解决上述现有技术中阻容法原理测量存在的传感器误差大、重现性差等缺陷。

为了达到上述目的,本实用新型的技术方案提出一种SF6的气体水分测量系统,包括:

第一光源及第二光源,设置在待测SF6气体的一侧,用于产生穿过所述待测SF6气体的光线;

第一光学测量传感器及第二光学测量传感器,设置在所述待测SF6气体的另一侧,分别用于接收所述第一光源及所述第二光源产生的并穿过所述待测SF6气体的光线并产生对应的两组测量信号;

数据处理器,分别与所述第一光学测量传感器及所述第二光学测量传感器连接,用于对所述两组测量信号进行差分处理以得到所述待测SF6气体的水分测量值;以及

显示装置,与所述数据处理器连接,用于显示所述差分处理后得到的水分测量值。

上述的SF6的气体水分测量系统中,还包括:温度和压力传感器,与所述数据处理器连接,并用于将感测所述待测SF6气体得到的温度和压力测量信号传送至所述数据处理器。

上述的SF6的气体水分测量系统中,所述第一光源及所述第二光源均为激光光源。

上述的SF6的气体水分测量系统中,还包括:

供电电源,与所述数据处理器连接,用于通过所述数据处理器为该系统中的各部件供电;

通信模块,与所述数据处理器连接,用于通过所述数据处理器处理该系统中各部件之间的通信。

本实用新型技术方案提供的SF6气体水分测量系统,是根据入射光能量的改变量和光在被测物质内所走过的光程以及吸收光能物质的密度来计算出被测气体中的水分含量,因此具有测量精度高、测量时间短、重现性好、灵敏度高、不怕污染等优点,而且该系统在测量时不受环境温度的影响,也不存在数据漂移的问题。

附图说明

图1为本实用新型SF6的气体水分测量系统实施例方框图。

具体实施方式

以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。

本实用新型的系统是采用光谱分析法的原理。众所周知,包括H2O在内的许多化合物的分子红外波段都有吸收光谱带,吸收带光谱的强弱和所在的波段是由分子的结构来决定的。本实用新型SF6的气体水分测量系统就是利用水分子对红外光谱的特征吸收带而设计出来的。利用吸收红外光谱法对物质的含量进行测定通常是依据Beer定律进行计算,也就是将一束具有特征波长的光通过被测物质,由于有部分光的能量在通过被测物质时被吸收掉,所以根据入射光能量的改变量和光在被测物质内所走过的光程以及吸收光能物质的密度便能够计算出待测SF6气体中的水分含量。

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