[实用新型]一种太阳能电池片漏电位置检测装置有效
申请号: | 201120376269.1 | 申请日: | 2011-09-29 |
公开(公告)号: | CN202259208U | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 黄燕 | 申请(专利权)人: | 浙江向日葵光能科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/18 |
代理公司: | 绍兴市越兴专利事务所 33220 | 代理人: | 张谦 |
地址: | 312071 浙江省绍兴市袍江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 漏电 位置 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型公开一种太阳能电池片漏电位置检测装置,属于太阳电池制造领域。
背景技术
从应用角度来看,晶体硅仍然是国际未来太阳能电池的主要材料,而目前硅材料的价格日趋上涨态势。要想争取更大的利润,在单片晶体硅上取得更高的效率是目前唯一能解决的途径。由于国际市场对低成本、高效率的太阳电池的大量需求,提高单片转换效率是势在必行。
另外,随着传统能源日趋紧张,各种常规电价将逐步提高,太阳电池发电的成本上也日俱竞争力,因此,严格控制现有工艺的不良品,提高单片电池转换效率的途径趋势明显。
在太阳能电池制造过程中,扩散薄层电阻不均匀、刻蚀没刻好、铝浆污染、烧结温度过高均会造成漏电。随着太阳能电池效率的越来越高,为提高电池转换效率,减少电池在整个制程过程中漏电而导致的低效,在整个制程过程中必须检测电池片漏电,找出漏电原因所在,想办法解决漏电问题,目前检测电池片漏电的方法有:红外热像仪检测太阳电池漏电流的方法、反偏式太阳能电池片漏电位置检测装置,这些装置是整套设备,机器较贵,需要投入较多的资金购买检测设备,给企业带来了一定的经济压力,为解决这一问题,本案由此产生。
发明内容
为解决上述问题,本实用新型提供一种制造成本低,检测漏电位置快速、方便、准确的太阳能电池片漏电位置检测装置。
为实现上述目的,本实用新型所采用的技术方案为:
一种太阳能电池片漏电位置检测装置,包括稳压电源、漏电测试膜、金属导电板,其中被测电池片放置在金属导电板的上表面,且被测电池片有主栅线面朝上,稳压电源的正极与被测电池片的主栅线相接,稳压电源的负极与金属导电板相接,漏电测试膜贴合在被测电池片有主栅线面的上表面。
作为上述方案的进一步设置,所述漏电测试膜包括复合在塑料纸上表面的感温变色层,其中塑料纸与被测电池片有主栅线面的上表面贴合。感温变色层感应到电池片漏电处发热就会发生变色现象。
所述稳压电源为可调稳压恒流直流电源。
所述稳压电源的规格为15V100A。
所述金属导电板是铁板、铜板、铝板中的任意一种。
本实用新型一种太阳能电池片漏电位置检测装置,可以很直观的检测扩散、刻蚀、丝网印刷的质量,并且操作便捷,投入资金少。本实用新型采用的是漏电测试膜感应到电池片漏电处发热就变颜色的原理,来确定电池片漏电部位,即与电池片相对应的漏电测试膜处颜色发生变化,就表明该处漏电,就可判别是哪道工序造成的漏电,利于改善工艺,以彻底解决漏电的问题,颜色变化处即为漏电点。
总之,本实用新型的有益效果是:1、本实用新型制造成本低,只需一个普通的直流稳压电源、一块金属导电板、一块漏电测试膜,结构简单,快速便捷,采用本实用新型能快速检测到太阳电池的漏电流的位置,方便分析形成漏电流的原因,为提升太阳电池性能提供导向作用。2、稳压电源只需控制电压在15V以下,安全方便,测试时不会对人体造成伤害。3、漏电测试膜只是在普通的塑料纸上表面加上一层感光材料,遇热会变色的热敏材料即可,该漏电测试膜可以在其它公司采购到;4、本实用新型利用电池片漏电即发热的原理,从而在漏电测试膜上辨识漏电处,利于改善工艺,以彻底解决漏电问题。颜色变化即为漏电点,该方法快速简便、直观。
以下结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步说明。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型一种太阳能电池片漏电位置检测装置,包括稳压电源1、漏电测试膜2、金属导电板4,其中被测电池片3放置在金属导电板4的上表面,且被测电池片3有主栅线面朝上,稳压电源1的正极与被测电池片3的主栅线相接,稳压电源1的负极与金属导电板4相接,漏电测试膜2贴合在被测电池片3有主栅线面的上表面。
其中,漏电测试膜2包括复合在塑料纸22上表面的感温变色层21,其中塑料纸22与被测电池片3有主栅线面的上表面贴合。稳压电源1为可调稳压恒流直流电源,且规格为15V100A。金属导电板4是铁板、铜板、铝板中的任意一种,优选铝板。
本实用新型的工作原理如下:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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