[实用新型]用于光学检测板状材料的表面的设备有效

专利信息
申请号: 201120387967.1 申请日: 2011-10-10
公开(公告)号: CN202491262U 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 米歇尔·坎泰拉;马泰奥·马谢蒂 申请(专利权)人: 阿托姆公开有限公司;凯摩高公开有限公司
主分类号: B26D7/27 分类号: B26D7/27
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 车文;张建涛
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 检测 材料 表面 设备
【权利要求书】:

1.一种用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,所述设备尤其适用于连续切割机或连续切割台(10),所述设备包括:位于底座(12)的顶部处的四方形的切割平台(14),在所述切割平台上放置待切割的所述材料;由至少一个梁(18)承载的贯穿的一个或更多个切割头或切割单元(20),所述梁在引导下沿着平行或正交于所述切割平台(14)的长边的一个或更多个轨道(24)滑动,其特征在于,所述设备包括附接到所述梁(18)或附接到与所述梁(18)平行的可移动支撑件(28)的至少一个扫描仪(22)。

2.根据权利要求1所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述扫描仪(22)一体形成到盒型支撑件(18′)中,所述盒型支撑件(18′)部分地界定所述梁(18)。

3.根据权利要求1或2所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述扫描仪(22)是称为CIS即接触图像传感器的类型,并且所述扫描仪(22)平行于所述切割平台(14)的短边延伸。

4.根据权利要求1或2所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述扫描仪(22)是超声型。

5.根据权利要求3所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述扫描仪(22)的检测传感器位于放在所述切割平台上的所述材料(16)的上方介于2.0mm和20.0mm之间的高度处。

6.根据权利要求1所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述扫描仪(22)一体形成到所述可移动支撑件(28)中,所述可移动支撑件(28)被引导沿着所述梁(18)移动所沿的所述轨道(24)中的至少一个滑动。 

7.根据权利要求5所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述可移动支撑件(28)由能移动到切割区域的外部的盒组成,并且在与所述盒(18′)面对的一侧上设有由所述盒(18′)承载的临时接纳和接合支座(30′)。

8.根据权利要求1所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,所述设备包括用于调节所述扫描仪(22)的高度和/或用于使相关传感器对焦的一个或更多个飞轮或旋钮。

9.根据权利要求2或5所述的用于光学检测板状材料(16)的表面的设备,其特征在于,一体形成到所述盒(18)中和所述支撑件(28)中的所述扫描仪(22)能够按照平行于所述切割平台(14)的短边的方向移动。 

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