[实用新型]异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统有效

专利信息
申请号: 201120398376.4 申请日: 2011-10-19
公开(公告)号: CN202255844U 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 周胜 申请(专利权)人: 苏州华必大激光有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏省苏州市工业园*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光纤 熔接 点纤芯 损耗 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统,其特征在于:它包括

光源,其具有两个,分别连接在两根待测光纤的一端,所述的光源用于产生一定强度的光信号;

光功率计,其具有两个,分别连接在两根待测光纤的另一端,所述的光功率计用于测量光功率大小;

所述的光源与光纤、光功率计与光纤在熔接前和熔接后保持固定连接,通过分别读取熔接前和熔接后光功率计的读数,得到两根待测光纤在直连情况下的光功率和交叉熔接形成异种光纤后的光功率值,以获得光纤熔接点纤芯损耗的测量值。

2.根据权利要求1所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统,其特征在于:所述的光源主要部件为半导体激光器、光纤激光器、固体激光器或气体激光器中的一种。

3.根据权利要求1所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统,其特征在于:所述的光功率计为光电探头或热光探头类型的光功率计中的一种。

4.根据权利要求1所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统,其特征在于:当待测光纤中有一根或两根为双包层光纤时,在相应的双包层光纤的两侧靠近端点处还分别设置有用于增加测量精度的包层功率剥离器。

5.根据权利要求1所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统,其特征在于:所述的两根待测光纤在芯折射率、包层折射率、芯半径、包层半径、包层结构、掺杂条件、制造商、批次等中的一种或多种方面不完全相同。

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