[实用新型]一种定位测量钻针不同高度位置直径的激光直径测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种激光直径测试仪，尤其涉及一种定位测量钻针不同高度位置直径的激光直径测试仪。

背景技术

目前，印刷电路板加工过程中，采用钻针对印刷电路中需要钻孔的位置进行钻孔加工。钻针为一端大，一端小的柱形结构，其竖截面为椎台结构，两侧边具有一定的斜率。用钻针对印刷电路板进行钻孔时，将钻针大的一端对印刷电路板进行钻孔，由于钻针另一端小，从而钻针与印刷电路板的钻孔间有一定的间隙，印刷电路板产生的碎末从间隙中排出。当钻针侧边的斜率太小时，钻针与印刷电路板钻孔的间隙过小，印刷电路板产生的碎末不好排出，堵在钻孔中，还易造成钻针断开。所以对钻针侧边的斜率计算极其重要。目前一般通过测试钻针两个不同高度的直径，再估计出钻针的斜率。因目前无法对钻针具体两个高度进行定位测量直径，进而无法精确得到钻针侧边斜率。 

发明内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种能精确得到钻针侧边斜率的定位测量钻针不同高度位置直径的激光直径测试仪。

本实用新型一种定位测量钻针不同高度位置直径的激光直径测试仪，其包括激光发射器，激光接收器、测量座和处理器，测量座设于激光发射器和激光接收器间，激光接收器与处理器电连接，钻针固定在测量座上，其被测端延伸出测量座，激光发射器、钻针被测处和激光接收器的主轴处于同一条直线上，所述测量座上设有测量垫块，测量垫块上设有一个以上的台阶，当钻针一端延伸出测量座，另一端抵于不同台阶面进行测量直径时，得到钻针上不同高度位置的直径。

所述测量座上设有固定钻针的夹持部。

所述测量座上设有放置测量垫块的凹槽。

采用本实用新型的装置，利用测量垫块，能精确定位钻针上两处不同高度的被测量位置，进而换算得到精确的钻针侧边的斜率，对后续用钻针对印刷电路板进行钻孔操作有重大的意义，提高钻针进行钻孔操作的成功率。 

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：

图1是本实用新型的激光直径测试仪的结构示意图；

图2是本实用新型测量座的结构示意图；

图3为本实用新型钻针的结构示意图。

具体实施方式

如图1-3所示，本实用新型包括激光发射器1，激光接收器2、测量座3和处理器4，测量座3设于激光发射器1和激光接收器2间，激光接收器3与处理器4电连接，钻针5固定在测量座3上，其被测端延伸出测量座3，激光发射器1、钻针5被测处和激光接收器2的主轴处于同一条直线上，所述测量座3上设有测量垫块6，测量垫块6上设有一个以上的台阶7，台阶7高度设为定值H，当钻针5一端延伸出测量座3，另一端抵于不同台阶面进行测量直径时，得到钻针5上不同高度位置的直径。

所述测量座3上设有固定钻针5的夹持部8，便于钻针5固定在测量座3上。

当测量钻针5直径时，先将钻针5一端抵于测量垫块6的一个台阶面上，再用测量座3的夹持部8夹紧钻针5，打开激光发射器1，对钻针5被测处直径进行激光扫描，激光接收器2接收到激发发射器1扫描的数据，并将数据发送给处理器4，经处理器4处理得到钻针5直径数据，并显示在处理器4的显示屏上，设得到的钻针5直径为r。移动测量垫块6，将钻针5抵于测量垫块6的另一个台阶面，再次测量钻针5直径，经激光扫描得到钻针5上另一高度位置的直径，设该次得到的钻针直径为R，台阶高度为H，钻针侧边的斜率为θ，由于台阶高度H已知，所以可以直接得到钻针侧边的斜率θ为：

θ=Arctg(R-r)/H 。

采用以上结构，利用测量垫块6可方便的测量钻针5不同高度的直径，由于钻针5两次被测高度间的距离与台阶7高度一致，因此利用台阶7高度，可方便地计算出钻针5的斜率。

所述测量座3上设有放置测量垫块6的凹槽9，便于测量垫块6固定于测量座3上。