[实用新型]仪表测试线接触不良检测装置有效

专利信息
申请号: 201120409003.2 申请日: 2011-10-25
公开(公告)号: CN202339390U 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 朱华国;陈军 申请(专利权)人: 常州市同惠电子有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 何学成
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 仪表 测试 接触 不良 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及仪表检测技术领域,特别涉及一种用于LCR电桥、低电阻测试、电池内阻测试等检测时的仪表测试线接触不良检测装置。 

背景技术

对于电阻、或电桥类的元器件,在生产完工时均需对其的是否合格进行检测。通常会采用仪表对其检测,该仪表上设置了四条测试线传输线,分别与仪表测试端的HC,HP,LC,LP连接,在各条测试线的另一端,将两条测试线的另一端连接至同一个夹持装置上,这样,每个夹持装置上连接了一条电压采样测试线和一条电流驱动测试线。使用时,将两个夹持装置分别夹持在被检测元件的两端,即可进行是否合格的检测。 

随着科技的进步,对检测仪器的测量准确性提出了更高的要求,由于测试线本身的接触不良或者断线造成的仪器测量结果的误差,致使合格率降低。这样也就增加了客户检测被测件出错的概率,很可能将不良品当作了良品使用,或者将良品判为了不良品丢弃。 

因此,目前,众多的客户都希望能够有这样一种手段,能够自动检测仪表测试线的接触是否可靠,从而能够大大减少测试被测件的误判情况。在现有的技术中,由于没有这样的手段,通常只能够由客户自己发现测试不对后,人工将测试线重新插进测量端口并查看测试数据是否正确,而这样的判断本身也可能存在问题。基于这样的需求和对产品性能的不断追求完善,我们设计出了这样一个用于测试线接触不良的检测电路, 

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种仪表测试线接触不良检测装置,当采用仪表测试被测件时,如果四根测试线中的某一根接触不良或者断线,那么通过该检测装置即可检测出来,并通显示屏将测试线接触不良或断线的结果显示出来。 

实现本实用新型的技术方案如下: 

仪表测试线接触不良检测装置,其特征在于,包括: 

信号放大模块,该信号放大模块将测试线电压采样端信号进行信号幅度的放大;以及 

基准信号源模块,该基准信号源模块提供一个与电压采样信号不同频率的交流波;以及 

电压采样信号合成模块,将接收的信号放大模块的信号与基准信号源的信号进行合成,得到电压采样端合成信号;以及 

电压采样比较模块,将电压采样信号合成模块输出的信号与一设定的正、负电压进行比较,从而得到电压采样端是否接触不良的比较信号;以及 

为测试线电流驱动端的采样信号的电流驱动信号模块;以及 

电流采样比较模块,将电流驱动信号模块输出的电流采样信号与一设定的正、负电平进行比较,从而得到电流驱动端是否接触不良的比较信号;以及 

电平转换器开关模块,将对电压采样比较模块以及电流采样比较模块这二者的输出信号进行电平的转换,使其信号符合CPU的电平信号,并将电平转换后的信号输出给CPU;以及 

CPU,对电平转换器开关模块输出的信号进行计数,从而判别出当前测试线是否存在接触不良的情况;以及 

显示器,接收CPU的输出信号,显示测试线接触的情况。 

采用了上述方案,本实用新型解决了目前阻抗测量方面由于测试线接触不良而导致的数据结果的偏差问题,这样大大减少了因此问题而造成的测量误差,提高了产品检验的合格率,提高了工作效率,从而降低了工作成本。选用一种与信号源不同频率的信号,从而来区分开哪路测试线接触不良。 

附图说明

图1为本实用新型的电路方框图; 

图2为对应图1的电路原理图; 

图3为基准信号源模块另一实施方式 

图4为电平转换器开关模块的另一实施方式; 

附图中,1为信号放大模块,2为基准信号源模块,3为电压采样信号合 成模块,4为电压采样比较模块,5为电流驱动信号模块,6为电流采样比较模块,7为电平转换器开关模块,8为CPU,9为显示器。 

具体实施方式

参照图1,本实用新型的仪表测试线接触不良检测装置,包括: 

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