[实用新型]石英晶片检测台

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测台，尤其是石英晶片的检测台。

背景技术

    目前，在石英晶片制造行业中，对于石英晶片成品或半成品出品前需要对晶片进行检测，检测晶片是否有缺损，表面是否有划伤等瑕疵，通常是将石英晶片逐个进行检查，这种人工劳动极大地影响了工作效率，同时也增添了工作人员的工作负担，费时费力。

实用新型内容

    本实用新型要解决的技术问题是提供一种石英晶片成品检测台，能够快速地、成批得检测石英晶片成品或半成品的质量，提高了生产效率。

本实用新型是通过以下技术方案来实现的。

一种石英晶片检测台，其包括了透明的观察板设置于顶部的检测台基座，观察板设有至少一个石英晶片放置框，且其下方设有若干均匀布置的发光装置于检测台基座内。

进一步地，上述石英晶片放置框是由两对隔板构成的，且上述两对隔板与观察板共围成矩形体空间。

进一步地，上述观察板为玻璃制且厚度一致的平板。

进一步地，上述发光装置设为日光灯管。

进一步地，上述日光灯管等间距得平行铺设于检测台基座底部。

本实用新型在使用时，将成品（半成品）的石英晶片，放入检测台的石英晶片放置框内，石英晶片组的两端的石英晶片面贴于放置框的两对应隔板内面，打开日光灯管，从石英晶片的正上方进行观察，若出现非正常状的阴影或者区别于正常颜色的亮点时，即为存在缺损的石英晶片。

本实用新型的有益效果在于，通过发光装置将光线打至观察板的下板面，可清晰得观察出石英晶片成品是否有缺陷或者划伤，一次可检测大量的石英晶片成品，节省了工作时间，提高了生产效率，减少了工作量以及工作负担。

附图说明

图1为本实施案例石英晶片检测台的结构示意图；

图2为图1的A方向视角示意图。

具体实施方式

下面根据附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明。

图1为本实施案例石英晶片检测台的结构示意图，图2为图1的A方向视角示意图，参照图1、图2，本实用新型，石英晶片检测台1，是由检测台基座11、观察板13、日光灯管15、石英晶片放置框17构成的，其中日光灯管15设有3个，石英晶片放置框17设有2个。

检测台基座11是由底板111、两对侧板即侧板113、117和侧板115、119围成的顶部开放式的箱体结构。观察板13固定在检测台基座11的顶端，观察板13是由玻璃板制作的，并且观察板13的厚度没有变化即为等厚板。观察板13的上端面设置了2个石英晶片放置框17，石英晶片放置框17是由两对隔板即隔板171、175和隔板173、177与观察板13共同构成的，并且共同围成的空间为矩形体，同时这2个石英晶片放置框17相互平行得设置在观察板13上端面。

本实用新型在使用时，将待检的石英晶片，放入检测台1的石英晶片放置框17内，石英晶片组的两端的石英晶片面贴于放置框的两对应隔板171、175的内面处，打开3个日光灯管15，从石英晶片组的正上方进行观察，若出现非正常状的阴影或者区别于正常颜色的亮点时，即为存在缺损的石英晶片。

综上所述，本实用新型，石英晶片检测台可一次性检测大量的石英晶片，节省了工作时间，提高石英晶片检测精准度，减少了工作量以及工作负担。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本实用新型内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。