[实用新型]玻璃基板残材检测装置有效
| 申请号： | 201120426859.0 | 申请日： | 2011-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN202305836U | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 王鹏伟;张海博;王大山;张彭;顾晓光 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 玻璃 基板残材 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种玻璃基板残材检测装置，包括检测台及与检测台配套设有的对位柱，其特征在于，所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱之间。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板残材检测装置，其特征在于，所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑块套于滑轨上，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。
3.根据权利要求1所述的玻璃基板残材检测装置，其特征在于，所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑轨上设有供滑块滑动的滑槽，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。
4.根据权利要求2或3所述的玻璃基板残材检测装置，其特征在于，所述滑块上设有限位件。
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