[实用新型]一种精密定位盘的角位置精度检测装置有效
申请号: | 201120433466.2 | 申请日: | 2011-11-04 |
公开(公告)号: | CN202361957U | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 陈力平;王明元;吕伟 | 申请(专利权)人: | 九江精密测试技术研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
地址: | 330304 *** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 定位 位置 精度 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种精密定位盘的角位置精度检测装置,特别是一种涉及具有V型槽圆周均布特性的定位盘的V型槽角度位置精密测量装置,角位置测量精度可达到10角秒,角位置测量重复精度可达到3角秒,角位置测量精度范围可达10角秒到600角秒。
背景技术
定位盘是利用圆柱体或球体在V型槽中的自动定心作用来实现自身转角精确定位的角位置定位构件,在其圆周上一般均布若干个V型槽,各V型槽的对称中心线过内孔中心,各V型槽的对称中心线之间的夹角精度既V型槽的角位置精度。因定位盘定位机构结构简单,定位可靠,造价低廉,因而广泛应用在精密车床刀具转位定位、小型飞行控制惯组的标定机构、惯组自标定机构中的角度基准等较高精度角度定位的应用场合。
定位盘由于没有反射面,难于用光学方法进行直接精密测量,生产制造过程中一般采用公知的三坐标测量机测量或公知的万能工具显微镜测量,公知的万能工具显微镜测量方法由于测量仪器自身的精度不够高,不能用于测量角位置精度在优于1角分的定位盘的度角位置。公知的三坐标测量机测量则由于定位盘的测量面太小,在将测量点拟合成面时,由于除数过小而使固有测量误差经过运算被放大,并且这些误差被带入后续的计算中进一步放大,表现在三坐标测量机对定位盘的多次测量的数据重复性普遍高于1角分,因此三坐标测量机不能适用于精度优于1角分的定位盘角度位置的测量。这就使得角位置精度优于1角分(即60角秒)的精密定位盘的角度位置测量没有公知的测量方法,本精密定位盘的角位置精度测量方法可以解决角位置精度要求在10角秒到600角秒(10角分)的精密定位盘的角度位置检测方法的问题。
实用新型内容
本实用新型其目的就在于提供一种精密定位盘的角位置精度检测装置,从而解决了角位置精度要求在10角秒到600角秒(10角分)的精密定位盘的角度位置检测的问题。具有测量直观、测量数据重复性高和测量数据可信度高的特点,且结构简单、方使。
实现上述目的而采取的技术方案,包括测量平板,所述的测量平板上设有单轴转台,单轴转台上固定被测定位盘,被测定位盘上固定精密正多面棱体,所述测量平板上设有光管垫块,光管垫块上安装数显光学自准直仪,所述数显光学自准直仪的光轴对准精密正多面棱体,所述测量平板上设有高精度可自锁直线导轨,高精度可自锁直线导轨上设有定位杆,定位杆前端设有锥窝,锥窝内设有钢球,经钢球连接被测定位盘的V型槽两面。
有益效果
与现有技术相比本实用新型具有以下优点。
解决了角位置精度要求在10角秒到600角秒(10角分)的精密定位盘的角度位置检测的问题。具有测量直观、测量数据重复性高和测量数据可信度高的特点,且结构简单、方使。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步详述。
图1为本装置结构原理示意图。
图2为本装置中被测定位盘V型槽定位原理示意图。
图3为本装置中被测定位盘、精密正多面棱体与单轴转台的安装关系示意图。
具体实施方式
包括测量平板12,如图1所示,所述的测量平板12上设有单轴转台10,单轴转台10上固定被测定位盘1,被测定位盘1上固定精密正多面棱体2,所述测量平板12上设有光管垫块11,光管垫块11上安装数显光学自准直仪9,所述数显光学自准直仪9的光轴对准精密正多面棱体2,所述测量平板12上设有高精度可自锁直线导轨5,高精度可自锁直线导轨5上设有定位杆3,定位杆3前端设有锥窝,锥窝内设有钢球8,经钢球8连接被测定位盘1的V型槽两面。
所述的高精度可自锁直线导轨5下方设有导轨垫块7,所述的定位杆3两端设有前压板4和后压板6。
所述的被测定位盘1和精密正多面棱体2与单轴转台10的回转轴线同轴。
本装置是利用单轴转台为被测定位盘和精密正多面棱体提供高精度回转轴线,实现被测定位盘与光学基准棱体的定轴旋转功能,利用高精度可自锁直线导轨提供高精度定位驱动与位置锁定实现定位盘的角度定位,利用精密正多面棱体提供高精度角度基准,利用数显光学自准直仪与精密正多面棱体组成光学测量系统。
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