[实用新型]一种测量同心球面半径差的量具有效
申请号: | 201120437982.2 | 申请日: | 2011-10-28 |
公开(公告)号: | CN202339180U | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 李叙辉 | 申请(专利权)人: | 内蒙古红岗机械厂 |
主分类号: | G01B5/22 | 分类号: | G01B5/22;G01B5/18 |
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地址: | 010076 内蒙*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 同心 球面 半径 量具 | ||
技术领域
本发明涉及一种测量同心球面半径差的量具,特别涉及对球冠、球带内密封槽深度测量的量具。
背景技术
当被测实体为完整球型时常规测量手段是不难实现的,但对于两球带半径差的测量、特别是两阴球同心球带零件的测量,常规测量手段难以实现。
通常,一种利用球体的几何特征的测量理论基础如附图7,对于两个不同直径的同心球面,被一平面剖开、剖面为两个同心圆,圆心为O。过O点作同心圆直径交两球面分别为A、B两点,且垂直平分两弦CD、FG;OA、OB分别为两同心的半径,则两球的半径差AB=OB-OA即为测量尺寸。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种测量同心球面半径差的量具,以解决同心球面半径差的测量问题。
为解决存在的技术问题,本发明采用的技术方案是,测量同心球面半径差的量具,包括支撑杆、测量杆、基座、紧定螺钉,其特征在于:所述基座底面接触校准球面时,基座底面的接触点在同一平面内,且基座底面的接触点组成的平面与校准球面相切;所述测量杆安装在基座上,测量杆底面接触校准球面时,测量杆底面的接触点在同一平面内,测量杆底面与校准球面的接触点组成的平面和基座底面与校准球面的接触点组成的平面平行,且测量杆底面与校准球面的接触点组成的平面中心垂线和基座底面与校准球面的接触点组成的平面中心垂线重合;所述支撑杆安装在基座的侧臂上,并安装有相应的紧定螺钉。
由于三点即可确定一个平面,所以基座接触校准球面的底面,可根据被测量同心球面的测量环境,制作成不同形状。通常,将所述基座底面接触校准球面的两边制作成为直径小于校准球面直径的圆柱体边。
由上可知,测量杆底面可以为任意形状,如三角形、方形、圆形或线形,但测量时具有一定的误差。通常,应将所述测量杆底面与校准球面的接触于一点,且该接触点位于基座底面与校准球面的接触点组成的平面中心垂线上。最好,将所述测量杆接触校准球面的底部为球体或锥体。
所述测量杆可采用标尺、游标卡尺、旋转千分尺等,可根据测量精度进行选择。
所述基座的一侧或两侧的侧臂上分别留有与基座中心不同距离的多个安装支撑杆的支撑杆孔,并安装有相应的紧定螺钉。以便根据测量同心球面的大小进行适当的选择。
通常,支撑杆接触校准球面的底部可以为各种形状。最好,将所述支撑杆接触校准球面的底部为球体或锥体。
本发明的有益效果:
本发明引用了螺旋副的测量原理直接测量两同心球带的半径差,解决了关于两阴球同心球带球径半径差的测量难题。本发明解决了同心球带零件不过球心情况下的测量球带半径差的测量,将三维复杂形状的测量,简化为两维的直接测量。本发明的特点是结构简单,操作方便,测量效率和精度高等特点。成功研制了两阴球同心球带半径差的量具,利用这套量具能满足产品的精度要求,应用效果良好。
本发明结构简单,操作方便,测量效率和精度高的特点。不但可对两同心阴球球冠、球带半径差的测量,同时可对球冠、球带内密封槽深度的测量,特别适应批量生产的测量。
附图说明
图1是测量同心球面半径差的量具的结构视图,其中,包括支撑杆1、测量杆2、基座3。
图2是图1中测量同心球面半径差的量具的A-A方向的结构视图,其中,包括紧定螺钉4,支撑杆孔5,侧臂6。
图3是零位校准示意图,其中,包括被测工件7、校准球面8、被测球面9。
图4是图3中零位校准A-A方向的示意图。
图5是测量过程示意图。
图6是测量过程示意图,其中,包括旋转千分尺的旋钮10。
图7是测量原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明:
本发明根据以上所述的球体几何特征的测量理论原理设计的,如附图7,此测量同心球面半径差的量具利用以校准球面8为基准,利用旋转千分尺测量杆2直接测量被测球面9的落差尺寸;为了减小测量同心球面半径差的量具的设计误差,设计中遵循了阿贝原理即测量轴线与测量基准同在一个直线或直线的延长线上。设计加工的基座3,见图1,根据被测球面9阴球球体的几何特征,对一球体过球心任意进行剖视,该剖面过圆心法向连线必过球体球心的特性。使用一个小于被测球体直径的圆柱体在阴球任意位置摆放使圆柱体端面圆与阴球表面相切,其圆柱体轴线的延长线经过阴球球心。
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