[实用新型]显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置有效

专利信息
申请号: 201120442195.7 申请日: 2011-11-10
公开(公告)号: CN202403990U 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 赵宏伟;张霖;黄虎;胡晓利;史成利;马志超;王开厅;李泽君 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01N3/34 分类号: G01N3/34
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 130025 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 显微 组件 尺度 原位 纳米 四点 弯曲 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:包括精密驱动控制单元、三自由度调整单元、传动及执行单元、信号检测单元和连接支撑单元;所述的精密驱动控制单元、传动及执行单元,包括直流伺服电机(30)、柔性联轴器Ⅰ、Ⅱ(31-1、31-2)、一级蜗杆(24)、一级蜗轮(25)、二级蜗杆(26)、二级涡轮Ⅰ、Ⅱ(3-1、3-2)及引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2),所述精密直流伺服电机(30)通过电机后部的支座法兰盘(28)与机架底板(12)连接,所述直流伺服电机(30)的输出轴与柔性联轴器Ⅰ(31-1)的一端螺钉紧固连接,所述柔性联轴器Ⅰ(31-1)的另一端通过柔性联轴器Ⅱ(31-2)、一级蜗杆支座(32)与一级蜗杆(24)螺钉紧固连接,所述一级蜗杆(24)与固定在二级蜗杆(27)中部的一级涡轮(25)相互配合,二级涡轮Ⅰ、Ⅱ(3-1、3-2)分别紧固在引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2)上;二级蜗杆(27)两端分别由固定在机架(12)左右两侧的二级蜗杆支座(1)中的轴承支撑,引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2)分别通过机架前、后、左、右侧板(35、10、6-1、6-2)内的紧固于后侧板(10)的轴承支撑;方螺母(4)与丝杠滚珠螺母(33)刚性固定连接,车架组上板(5)通过沉头螺母固定在方螺母(4)上方,所述丝杠滚珠螺母(33)分别与引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2)的精密滚珠丝杠部分(2-B)啮合;冲头座(8)通过螺钉固定在移动车架组、测力车架组的上板(5、9)的侧面,冲头(7)进而安装在冲头座(8)的导轨上。

2.根据权利要求1所述的显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:所述的信号检测单元由测力传感器(11)、位移传感器(34)、光电编码器(29)组成,所述测力传感器(11)的一端固定在机架后侧板(10)上,另一端与测力车架组的上板(9)后部连接,所述位移传感器(34)一端通过黏贴的方式与移动车架组的车架组上板(5)固定连接,另一端固定在机架前侧板(35)上,所述光电编码器(29)通过螺钉固定在直流伺服电机(30)后部。

3.根据权利要求1所述的显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:所述的三自由度调整单元是由机架(12)、楔形调整块(14)、楔形导轨(15)、x、y方向手动调整工作台(16、17)、锥齿轮组Ⅰ、Ⅱ(19-1、19-2)组成,所述机架(12)的下方安装有楔形导轨(15),x、y方向手动调整工作台(16、17)是由在x、y方向具有两个自由度平移的锥齿轮组Ⅰ、Ⅱ(19-1、19-2)构成,其x方向的调整丝杠通过一组x方向万向节(23)与仪器外部的x方向操纵手轮(22-2)连接,y方向的调整丝杠通过一对啮合的锥齿轮组Ⅰ、Ⅱ(19-1、19-2)、连接杆(20)及一组y方向万向节(21)与外部的y方向操纵手轮(22-1)连接,x、y方向手动调整工作台(16、17)通过螺钉分别与上部的楔形导轨(15)和底部的底座连接板(18)连接,所述底座连接板(18)与显微组件的载物台连接。

4.根据权利要求1所述的显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:所述的测力车架组是由方螺母(4)、滑动螺母(36)、测力车架组上板(9)、冲头座(8)组成,引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2)的光杠(2-A)部分和测力车架组的滑动螺母(36)的内孔紧密配合,使测力车架组沿光杠(2-A)做微小位移,所述的测力车架组的冲头座(8)后面与力传感器(11)的一端连接,通过测力车架组对力传感器(11)施加的力来测得弯曲过程中的力信号。

5.根据权利要求1所述的显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:所述的移动车架组是由方螺母(4)、精密丝杠螺母(33)、移动车架组上板(5)、冲头座(8)组成,所述精密丝杠螺母(33)与引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2)的精密滚珠丝杠(2-B)部分啮合,通过引导杠Ⅰ、Ⅱ(2-1、2-2)的转动带动移动滑动组轴向沿精密滚珠丝杠(2-B)运动,移动车架组上板(5)通过沉头螺钉固定连接在方螺母(4)上部。

6.根据权利要求1所述的显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:所述的冲头(7)与试件的形状结构相配合。

7.根据权利要求1或5所述的显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,其特征在于:所述的移动车架组的运动在微米级的范围内。

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