[实用新型]一种仪器测试电路

权利要求书

1.一种仪器测试电路，其特征在于：

包括由待测电阻(Rs)、反馈电阻(Rf)、放大器(AR1)组成第一级反相放大器，所述待测电阻(Rs)的一端与所述反馈电阻(Rf)的一端连接到所述放大器(AR1)的反相输入端，所述反馈电阻(Rf)的另一端连接到所述放大器(AR1)的输出端；

还包括若干级增益依次增加的档位放大器(AR2，AR3，...，ARn)和多路电子选择开关(M13)，所述放大器(AR1)的输出端为第一档的输出信号(Vo1)，直接或间接连接到所述各级档位放大器(AR2，AR3，...，ARn)的输入端，且所述各级档位放大器(AR2，AR3，...，ARn)的输出端依次输出为第二档、第三档、...第n档的输出信号(Vo2，Vo3，...Von)，再分别连接到所述多路电子选择开关(M13)的多路输入端选择输出为一路测得双极性模拟信号(VP)；

所述第二档位放大器(AR2)是在所述放大器(AR1)的基础上再放大且放大倍数为所述第二档与所述第一档的满档电阻值的比值，所述第三档位放大器(AR3)是在所述第二档位放大器(AR2)的基础上再放大且放大倍数为所述第三档与所述第二档的满档电阻值的比值，其余以此类推；

还包括双极性模数转换器(M12)，其输入端连接到所述多路电子选择开关(M13)的选择输出的一路测得双极性模拟信号(VP)，并将其转换为测得数字信号；

还包括嵌入式处理模块(M11)，既连接到所述多路电子选择开关(M13)的选择控制端以实现所述的选择输出为一路测得双极性模拟信号(VP)；又连接到所述双极性模数转换器(M12)控制端并获得所述测得数字信号。

2.根据权利要求1所述的一种仪器测试电路，其特征是：还包括一个由第一数模转换器(M16)和一个放大器反向偏置电路(M17)组成的零点自动反偏电路，所述嵌入式处理模块(M11)连接所述第一数模转换器(M16)的控制线，所述第一数模转换器(M16)模拟输出端连接到所述放大器反向偏置电路(M17)输入端，由所述嵌入式处理模块(M11)输出零点抵消数字信号并由所述第一数模转换器(M16)转换为双极性零点抵消模拟信号，再通过所述 放大器反向偏置电路(M17)加入到所述档位放大器(AR1，AR2，AR3，...，ARn)中的一个或多个放大器的输入端中。

3.根据权利要求1所述的一种仪器测试电路，其特征是：还包括第二数模转换器(M15)和测试电压驱动放大器(M16)，所述第二数模转换器(M15)控制端连接到所述嵌入式处理模块(M11)，将所述嵌入式处理模块(M11)输出的测试电压的数字信号转换为模拟电压信号，所述第二数模转换器(M15)模拟输出端连接到所述测试电压驱动放大器(M16)输入端，所述测试电压驱动放大器(M16)输出端输出测试电压信号(Vt)，并连接到所述待测电阻(Rs)的另一端。

4.根据权利要求1所述的一种仪器测试电路，其特征是：所述双极性模数转换器(M12)是单芯片双极性模数转换器，将双极性模拟信号转换为所述测得数字信号。

5.根据权利要求1所述的一种仪器测试电路，其特征是：所述双极性模数转换器(M12)由一模拟反相器、一选择开关和一单极性模数转换器组成，所述模拟反相器连接到所述的一路测得双极性模拟信号(VP)，其输出端输出一路测得模拟反相信号(VN)，所述选择开关由所述嵌入式处理模块M11控制，分时选择所述测得双极性模拟信号(VP)和测得模拟反相信号(VN)送到所述单极性模数转换器，以将双极性模拟信号转换为所述测得数字信号。

6.根据权利要求2所述的一种仪器测试电路，其特征是：还包括第二数模转换器(M15)和测试电压驱动放大器(M16)，所述第二数模转换器(M15)控制端连接到所述嵌入式处理模块(M11)，将所述嵌入式处理模块(M11)输出的测试电压的数字信号转换为模拟电压信号，所述第二数模转换器(M15)模拟输出端连接到所述测试电压驱动放大器(M16)输入端，所述测试电压驱动放大器(M16)输出端输出测试电压信号(Vt)，并连接到所述待测电阻(Rs)的另一端。

7.根据权利要求2所述的一种仪器测试电路，其特征是：所述双极性模数转换器(M12)是单芯片双极性模数转换器，将双极性模拟信号转换为所述测得数字信号。