[实用新型]半导体集成块自动测试设备的测试导轨

权利要求书

1.一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：设计一平面导轨（20），导轨上端固接有一放管箱（1），测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸（13）和右测试气缸（14），测试气缸推出部分别固定左测试针座（12）、右测试针座（9），测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸（16）和废品气缸（17），测试轨道表面下端固接有一出料压板（18），出料压板将出口分为正品出料口（22）和废品出料口（23），出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板（8）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器（24），放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸（6），换管气缸推出部上固接一进料换管定位板（3），放管箱内设置有进料退管定位槽（4），放管箱一侧为空管箱（2），空管箱上固接有一挡空胶管压板（5）。

3.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：测试导轨上固定有左测试定位板（11）和右测试定位板（10），导轨压板上对着测试位的位置上固定有一有料检测红外线感应器（25），测试导轨上还设有入料口产品定位槽（7）和测试位产品定位槽（15），测试位产品定位槽下设有正品导入槽（19）。

4.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：出料压板（18）一侧的机架上固定有一出料气缸（21），出料压板上表面还分别固定有废品通道检测红外线感应器（26）和正品通道检测红外线感应器（27）。