[实用新型]一种新型多端口快速测试的装置

说明书

技术领域

本实用新型多端口快速测试的装置主要用于通讯元器件电气性能的快速测试，尤其适用于电子器件模块的多端口测试。

背景技术

随着通信技术的进步，芯片技术正成为各级互连中系统中的技术驱动力。例如伴随0.5mm间距芯片封装迅速向0.25mm间距发展，组装技术由插入式安装技术(THT)向表面贴装(SMT)技术发展，进而向微组装(MPT)技术发展。越来越多的模块化器件应用到具体产品上，但在批量生产时经常会受测试工序繁琐、拆卸频繁效率低而困扰。模块化器件电气性能的测试是验证设计指标的一项关键过程，在试样或小量测试时因为暂未考虑生产效率，所以常规的测试方法可以满足生产需求。但是批量测试时就产生了以下问题：比如测试模块化器件的电气性能指标时，不仅测试端口需频繁拆卸，而且每次接触端的锁紧力都是不一致的。频繁拆卸极大的浪费了工时，而锁紧力的不一致就严重影响了测试结果的准确性。特别是在微波元器件、信息通讯领域比较注重稳幅稳相领域现有测试连接装置显得比较滞后。比如测试某种小型模块封装式器件的电气性能指标时，因为小型模块封装式器件的端口比较小，被测试端口与仪器连接的电缆端口的相对位置要求就极为严格，稍有偏差就严重影响了测试结果的准确性。

发明内容

本实用新型是克服以往技术的不足之处，提供一种操作简单、高精度、高效率等特点的快速测试装置。它解决了以往技术在测试时作业效率低下、杜绝人为因素而引起结果的准确性发生偏差的问题。

    为了达到上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

本实用新型是一种新型多端口快速测试的装置，包括本体基座，在本体基座上设置待测试产品的定位放置区A，在待测试产品的定位放置区A的两侧设置左滑块和右滑块，左滑块和右滑块分别通过左凸轮副和右凸轮副带动作定轨迹移动，左凸轮副和右凸轮副还分别连接左手柄和右手柄，左手柄和右手柄驱动左凸轮副和右凸轮副转动，在左滑块和右滑块上分别通过螺钉固定右测试转接器和左测试转接器。

本实用新型的进一步改进在于：在本体基座的一端的两侧均设置了一道左燕尾槽，在本体基座的另一端的两侧均设置了右燕尾槽，在左滑块和右滑块的两侧上均设置了一道左燕尾凸台和右燕尾凸台，左燕尾槽和右燕尾槽和左燕尾凸台和右燕尾凸台滑动配合。

本实用新型的进一步改进在于：右测试转接器一侧包括接触面和具有定位功能的连接端口，另一侧具有螺纹连接端。

本实用新型的进一步改进在于：本体基座上的待测试产品的定位放置区A周围设有若干个连接端口，所述连接端口是布置在滑块上或直接布置在本体基座上。

  使用本新型多端口快速测试的装置，在测试座与测试仪器有效连接后，仅需在测试座里待测试产品的定位放置区内更换待测试产品，通过该测试座上的滑块机构与待测试产品快速有效连接并锁紧固定从而达到快速测试的目的。排除以往因为连接端口拆卸复杂及测试状态的不一致性而影响测试结果，从而保障了测试结果的准确性与一致性，同时也极大提高了测试效率。

    本实用新型的快速测试装置是常规测试方法所不能替代的。它能快速作业，适合大批量测试生产，操作简便，降低作业强度；锁紧力的一致性好；位置精度高；生产效率高。解决测试时过程中需频繁拆卸，浪费了工时的问题；解决测试时过程中锁紧力的不一致、位置要求偏差而严重影响了测试结果的准确性等问题。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图。

图2是本实用新型左凸轮副的结构示意图。

图3是本实用新型右凸轮副的结构示意图。

图4 是本实用新型左手柄的结构示意图。

图5 是本实用新型右手柄的结构示意图。

图6 是本实用新型部分结构示意图。

图7 是本实用新型左滑块的结构示意图。

图8 是本实用新型右滑块的结构示意图。

图9 是本实用新型右测试转接器结构示意图。

图10 是待测产品的结构示意图。

图11是本实用新型加装待测试产品与测试转接端口后的示意图。

图12是本实用新型测试装置中凸轮副运动锁紧后的示意图。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的理解，下面结合附图和优选实例对本实用新型作进一步详细的说明，该实施例仅用于解释本实用新型，并不对本实用新型保护范围构成限定。